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器件型号： AWR1843
您好：
我正在研究一种与自校准过程相关的近距离串扰缓解（（Tx 到 Rx 直接泄漏）技术、希望对我观察到的内容进行澄清。
配置详细信息：
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启动时自校准为 从非易失性存储器恢复 以实现一致性。
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禁用 TX 功率校准和 RX 增益校准 通过自定义校准掩码、避免在温度变化超过 10 度时观察期间出现增益阶跃。
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将进行定期校准 禁用 。
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静态场景、没有近距离外部目标。
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温度从片上温度传感器获得。 来考虑所有传感器的平均值。
观察结果：
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我在监视中的振幅 距离 FFT 配置文件 、侧重于 前几个距离区间 （极近范围，串扰占用空间）。 单独查看每个通道。
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之后 冷启动 、当设备自热至工作温度时、我观察到 振幅几乎呈线性下降 随着温度升高而增加的近距离频段。 这 与 SPRACF4C 应用手册以及温度变化对 Tx 功率和 Rx 增益的影响相关。
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这种行为在形状（斜率与温度）上是可重复的、但：
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。 绝对振幅水平因下电上电而异 。
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整个近距离曲线各不相同 增加~1–2dB 0.5 μ V 偏移 另一个下电上电。
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问题：
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导致这种振幅差异的原因是什么？
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禁用定期校准、启动校准是固定的（从存储器恢复）。
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TX 功率和 RX 增益是否预计主要取决于温度？
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与上述不相关。 如果在引导时校准期间传感器中靠近磁场存在物体、是否会影响校准结果？ 换言之、在传感器运行过程中是否应在使用或不使用雷达天线罩或任何覆盖物的情况下执行启动时校准？
