主题中讨论的其他器件: DRV5032
我们一直在产品中使用 DRV5053、我们已经在工作台上成功地对其进行了认证、但我们一直在返回到我们在生产线上积累的数据、以确保固件算法在批量生产时对我们所生产的所有产品都保持稳定。
简而言之、我们将在 DRV5053上引发磁场事件、并使用主处理器进行一系列测量、然后将这些测量值取平均值作为一个单点校准值、我们可以在现场使用该值来补偿指定的巨大灵敏度范围。 但是、从我们在过去~4K 样本中看到的值的分布来看、在统计上有~1%的器件会超出数据表中的预期灵敏度范围。 下面是我们看到的分布的直方图、包括远高于我们预期值范围的次级分布。
这些值是可重复的、甚至连换用具有不同机械零件(和新磁体)的子装配体都无法根据分布峰值和数据表上的灵敏度容差将这些单元摆动到预期范围内。
这是否有比预期容差更宽的属性? 这些部件是否有缺陷?