Other Parts Discussed in Thread: FDC2212, FDC2214EVM
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在测试 FDC2212在一定电容范围内的精度时、我注意到波形峰值(Vpk)似乎与传感器电容成反比。 例如、 在146uA 的 I_drive 电流和~60pF 的 c_sensor 下、测得的 Vpk 为1.440V。 当 c_sensor 增加到260pF 时、测得的 Vpk 为1.384V。
为了补偿较大的电容值(~300pf)、我尝试通过增大 I_drive 的设置来增大 Vpk。 我注意到、对于给定的固定电容值、更改 I_DRIVE 对测量频率 DATA_CH0的影响很大。 随附的图显示了给定驱动电流设置下计算出的传感器电容(C_Tank + C_Rive寄 生)。
请注意:稳定计数和基准计数被最大化。
所示数据取自建议电路设计的定制 PCB、但我也能够使用 FDC2214EVM 评估套件复制行为。 基本上、随着驱动电流的增加、Vpk 增加、激励频率也增加、从而影响计算得出的并联电容。 我能够使用示波器确认频率的变化。 在明亮的一面、FDC2212测量的频率处于 示波器计算值的0.05%范围内。
我的主要问题是:这种行为是否符合预期? 即、在修改驱动电流时、是否预计测量励磁的变化? 如果没有、我是否可能在器件配置过程中出错?
我的问题是、与增大驱动电流类似、传感器检测到的 Vpk 也会增大、传感器电容增大导致的 Vpk 减小将影响 FDC2212在电容范围内的精度。 是否有任何建议有助于消除 Vpk /激励频率值下降的影响? 此外、评估套件 GUI 有一 个"Detect Idrive Init"按钮、该按钮似乎可以确定适当的 I_drive 值、是否可以共享这是如何实现的?
谢谢!
-弥敦
