[参考译文] AWR1243：长时芯片稳定性

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：AWR1243

大家好、

我们正在研究 AWR1243芯片、以验证采用 AWR1243的合成阵列在级联配置中的可行性。

在我们的分析中、我们对芯片的长期稳定性…感兴趣然后、是否有人长期(超过10秒、这是 Radar Studio + HSDC + TWS1400的限制)进行了采集并测试了 Rx 和 Tx 上的相位稳定性和振幅稳定性？

例如、在受控环境条件下并在固定距离处使用参考目标(例如角反射器)进行测试。

换言之、您是否对长期分析中的相位和振幅变化与热性能和/或时间之间的关系有任何特性？

提前感谢。

0 admin 8 年多前

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您好，
我将告知团队并检查我们是否可以与您共享数据。

-Raghu

0 admin 8 年多前

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您好 CDC、
我们已在整个温度范围(-40至125摄氏度)内长时间测试了相位和振幅稳定性。我们看到的最差相位失配变化在5deg 以内、振幅失配变化在0.5dB 以内。

此致、
Vivek

0 admin 8 年多前

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您好、Vivek、

感谢您的回复、
能否详细介绍一下您的测试？比如长期数据采集中的相位变化与温度的趋势。

非常感谢、

0 admin 8 年多前

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您好 CDC、
让我检查是否可以共享数据。顺便说一下、上述相位和振幅不匹配是针对单芯片的。我们还没有关于多芯片失配的数据。

此致、
Vivek

0 admin 8 年多前

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您好 CDC、

请在下方找到指示整个温度范围内的相位和增益变化的图。多个图适用于多个器件：

此致、

Vivek

0 admin 8 年多前

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你(们)好、Vivek
感谢您的回复。

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