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器件型号：IWR1443BOOST 您好！
我们计划使用该器件来测量材料表面的差异；例如、中心的深度为300 µm、边缘的深度为0 µm。 假设目标表面为0.5平方米。 根据我的理解、这可能会给测量带来麻烦、因为在4 Rx 配置中方位角分辨率为15度。 高精度演示似乎在1-Rx 和 Tx 配置上运行、仅显示范围； 这可能会由于方位角分辨率较大而导致回波错误。 这种应用对于 IWR1443BOOST 模块是否可行？ 我不确定是否可以选择横向偏移雷达或物体以在边缘执行测量、因为横向方向的移动也可能在距离方向上具有 µm Ω 的移动。
我已经了解到 TI 使用透镜聚焦光束。 可以选择重新设计具有窄波束宽度的天线、但我们重点关注的只是使用 IWR1443BOOST、而不是制造不同的部件。 https://e2e.ti.com/support/sensor/mmwave_sensors/f/1023/t/638403?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=4%20mm%20resolution%20iwr1443
有什么建议吗？
谢谢！
