Other Parts Discussed in Thread: IWR6843AOP
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器件型号：IWR6843AOPEVM 主题中讨论的其他器件：IWR6843AOP
您好！
我们在复数2x 模式下从 IWR6843AOP 传感器接收到 ADC 数据。 在接收到的 ADC 数据的2D FFT 图中、我们看到两个不同的展频覆盖了特定范围内的所有速度单元。 我们要求您的应用使用复杂的2x 模式以使用干扰检测功能。 当静态杂波(零速度)被抑制时、此传播的峰值相当大、如下所示：
我们相信此问题是由 AoP 传感器的天线耦合引起的、在复合模式下更为明显。
我们的主要原因是、我们希望在应用中使用 OCmplex -2x 格式进行干扰检测、并且我们希望检测非常小的物体。 对于小型反射、这会得到相当高的传播并将其抑制。
我们已经尝试了直接 ADC 采集以及 DCA 板 ADC 数据采集。 这两种方法都存在这一问题
我们已经尝试过具有不同斜率、采样率和带宽的多种配置。 所有配置中都存在此问题
该问题在复杂的2x 模式中而不是在复杂的1x 模式中是非常明显的。 但这两种情况都存在。
我们在基于 PCB 的 EVM 上的其他天线中看不到这种情况。
第一组峰值发生在距离区间6-10附近、峰值发生在第8个区间。 对于静态干扰区域中的相同数据、天线耦合峰值发生在2-3个数据箱中。 在所有其他器件中、天线耦合出现在0速度箱中、不被视为展频。
附近没有其他传感器会受到干扰。
我们想知道：
1) 1)所有 AoP 传感器中是否都存在此问题？
2) 2)是否有针对此问题的软件/固件修复或解决方法？ 我们的目标物体相当小、如果落在这些距离箱中、就会被挤压
3) 3)在新硬件修订或 ES 设计中、是否修复了此问题？
提前感谢、
Santhana Raj
