[参考译文] AWRL6432：如何避免为每个器件执行 ATE 校准步骤

你好、Nathan。

我知道、自 MMWave_L_SDK_05_02_00_02起、它已更改为不由器件执行 ATE 校准。
我要对此进行询问。

该版本中包含的源仍引用 ATE 校准数据。
例如、mmw_demo/motion_and_presense_detection。

在调用 MmwDemo_calibInit ()时,似乎 MOTION_DETECT.c 正在尝试从闪存导入校准数据。
未能从闪存检索数据将导致置位。
如果它从闪存中读取、我们了解到应用开发人员、而不是 TI、应该逐器件执行 ATE 校准。 我想知道它是否融合在了 IWRL6432中。

请告诉我如何不根据 MOTION_AND_PRESSENSE_DETECTION 执行 ATE 校准。

如果我们需要执行 ATE 校准、请回答从 eFUSED ROM 区域读取是否正确。

因此、客户无需更多地考虑他们的定制项目上的 ATE 校准过程。 对吧？

请说明客户使用新的 IWRL6432 IC 和空闪存组装其定制板的情况。

谢谢。

此致、  

插孔

你好，纳特

感谢您的友好回答。

BTW、客户仍发现 L6432BOOT EVM 套件出现故障。

请参阅下面的故障日志。

• 测试设备  : AWRL6432BOOST
• 测试固件  ：  
• C：\ti\mmwave_L_sdk_05_02_00_02\examples\mmw_demo\move_and_Presence tection\prebuild_binaries\move_and_Presence tection_demo.release.appimage
• 等等  :固件下载前完全擦除
• 故障日志

Please load and rerun ATE Calirbation application!
sensorStart 0 0 0 0
Error: mmWave Control Initialization failed [Error code -205787070] [errorLevel 2] [mmWaveErrorCode -3141] [subsysErrorCode 15376]
Error: Boot Calibration failure
Error: mmWave factory calibration failed
Error: mmWave Open failed [Error code: -3121 Subsystem: 0]
Error -1

由于 EVM 中连接了预启动器件、此问题也会重现。  相关问题来自下面。

AWRL6432：需要 API 或接口进行 ATE 校准。 -传感器论坛-传感器- TI E2E 支持论坛

您能否让我们知道如何在最新的 SDK 5.2上的闪存完全擦除后避免该置位故障、因为它看起来仍在尝试访问闪存中存储的 ATE CAL 值？

在 L6432的 RTM 版本中、ATE 校准值是否在传感器内部 ROM 中编程并发货？ 我被要求再次确认客户不需要在外部闪存上单独对其编程。 请回答我。

此致、  

插孔

您好、Jack、

NATE 已经发布到今天、但据我所知、RTM L6432器件将把 ATE 校准值刻录到器件中。

适用于需要从预发布设备进行 ATE 校准的客户。 它们需要将 MMWAVE_L_SDK_05_02_00_02\tools\ATE_Calibration\xwrL64xx 中的 ATE 校准二进制文件刷新(在刷写模式下)、然后将其切换到功能模式几秒钟。 之后、器件应具有校准值并且可以重置、返回到刷写模式、然后刷写所需的任何二进制文件。

此致、

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