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[参考译文] IWRL6432:刷写器件

Guru**** 2763585 points

Other Parts Discussed in Thread: IWRL6432, IWRL6432BOOST, UNIFLASH, SYSCONFIG

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1238746/iwrl6432-flashing-device

器件型号:IWRL6432
Thread 中讨论的其他器件:UNIFLASHSysConfig

大家好!  

一些背景信息:我目前正在评估 IWRL6432、并且创建了自己的电路板。 我在提出此电路板时遇到了一些问题、因此我将尝试缩小潜在问题的范围。  

我们在电路板上没有使用 XDS110。 相反、我们有自己的独立调试板、可通过 FTDI 芯片将 USB 转换为 UART。  因此、当使用低功耗可视化工具刷写我们的电路板时、我们必须手动指定 COM 端口、因为我们不使用 XDS。  然后、我们将.appimage 文件刷写到器件上、与我们在 IWRL6432Boost EVM 中成功使用的该文件是相同的。  刷写时、我们看到 UART 线路(绿色为 UART-RX、黄色为 UART-TX)上有活动。

然后、可视化工具显示刷写已成功:

 

我想在此明确说明成功意味着什么:  

是否执行了任何验证来确认.appimage 是否已成功存储在外部闪存中?  

或者它只是将.appimage 写入闪存并且一旦完成写入、它就会自动假定它已经成功?

3.既然上面说的是成功的,我们是否可以假设我们在这个板上使用的外部闪存是兼容的,并且工作正常? 外部闪存是否确认它已成功接收到.appimage?

4.我们将 MX25R1635F 用于外部闪存、而您的 EVM 使用 MX25V1635FZNQ03。  MX25R1635F 和 MX25V1635FZNQ03看起来是兼容的、不需要在固件中进行任何更改即可确保兼容性?

非常感谢您提供宝贵意见。  

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    您好!

    请允许我们团队中的适当成员在另一天对此作出回应。

    同步。 您是否尝试过通过独立 Uniflash 程序进行刷写? 由于刷写器件、输出通常更详细。

    此致、

    时间

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    您好、Tim、我刚才用 Uniflash 刷写了它。 输出如下:  

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    您好!

    我不认为在 刷写器件时正在运行错误检查、但我们可以将其转发给 Uniflash 团队进行注释。

    此致!

    纳特

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    尊敬的 Nathan:  

    如果我们能得到有关是否正在运行错误检查的答案、那将不胜感激。  

    我想我们正在慢慢缩小问题的范围:

    根据这篇文章、我们不知道  SDK 目前似乎仅支持 MX25V1635FZNQ 闪存器件:  https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1237197/iwrl6432-can-the-flash-mx25l3233fm2i-08-be-used?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=IWRL6432%252520Flash# 

    我们当前正在使用  MX25R1635F (宽电压器件型号)。 我发现其他 TI 平台也支持这款 Macronix 闪存 IC:

    查看下面的 IWRL6432 SDK SysConfig、可以看到仅支持  MX25V1635F:

    您能否建议我们应在 SysConfig 中更改哪些字段以使此器件与 MX25R1635F 兼容? 我认为这应该很少、因为 MX25R1635F 和 MX25V1635F 闪存 IC 看起来非常相似。  

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    我不认为在 刷写设备时正在运行错误检查[/报价]

    基本(部分/快速)验证在刷写映像后由 UniFlash 完成。

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    大家好!

    我一直在从软件方面帮助 Luka 调试他的开发板。 我们的固件是根据在 IWRL6432BOOST EVM 上成功运行的 MOTION_AND_ENVATE_DETECTION 演示改编的、因此我们会收到以下错误消息:

    [Cortex_M4_0]错误:Board_flashOpen:168:实例0的闪存打开失败!!!
    校准无效
    断言:0.3844s:../MOTION_DETEC.c:MOTION_DETECT:4206:0 FAILED!!

    生效失败的原因是 MmwDemo_calibInit MOTION_DETECT 中调用时返回错误代码

    经过一些调查、我们发现在.syscfg 文件中、闪存 JEDEC 器件 ID 设置为0x2 3 该值与 MX25评估板的数据表 V 1635F、而 MX25的 R PCB 上的1635F 为0x2 8 15.

    更改此项后、闪存错误消失、我们仅收到一个校准错误:

    [Cortex_M4_0]校准无效
    断言:2.71274s:../MOTION_DETEC.c:mmwDemo_factoryCal:3936:0失败!!!

    此断言失败是因为 mmWave_factoryCalibConfig mmwDemo_factoryCal 中返回错误代码

    从说明幻灯片运行正常的 ATE 校准程序不能解决问题。 我猜、更改固件中的器件 ID 可使 其正确连接 QSPI 闪存、但校准固件中不存在此更改、因此无法存储校准值。

    明白了吗? 您能否为我们提供一种使用 MX25R1635F 器件执行 ATE 校准的方法、例如修改后的固件版本、或者我们可以自行修改的校准固件源代码?

    谢谢。

    贝图斯

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    您好、Bertus:

    我很高兴事情进展了! 我在内部询问 ATE 校准图像。 让我们在24小时内回复您。 如果您没有看到响应、请随意对该主题执行 ping 操作。

    此致!

    纳特

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    尝试此图像?

    e2e.ti.com/.../MX25V1635F_5F00_calibration_5F00_example.release.appimage

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    您好、Nathan、感谢您的回复。 一个简短的问题:您现在发送的此应用程序映像与我们已经尝试的应用程序映像有何区别、顾名思义、它仍然仅与 MX25V1635F 兼容、不与 MX25R1635F  闪存型号兼容?  

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    尊敬的 LJKW:

    新映像与  MX25R1635F 兼容。 该映像的器件 ID 更改为0x2815、与 MX25R1635F 兼容

    此致、

    阿比谢克

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    非常感谢。 我们可以确认此映像允许我们将 ATE 校准数据存储在闪存中。 我们还可以确认、 在 SysConfig 中将器件 ID 更改为0x2815、这样我们就可以使东西按预期运行。