[参考译文] AWRL1432：如何计算 PeakVal？

贾斯珀、您好！

是的、 ADC 采样在1432器件前端链中的 LNA 之后。

您能否共享 DPU 映像的源？

谢谢。

Deexith、您好

DPU 映像来自 SDK 中的 TI 文档 MotionPresenceDetectionDemo_documentation。

此致

贾斯珀

贾斯珀、您好！

有关更多信息、我建议遵循以下主题中的答案：  

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1042060/iwr6843aop-mmwave-radar-chip-and-board-selection-for-water-spray-quality-detection 

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/914685/awr1642-awr-series-received-power-estimation 

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/613223/awr1243-how-to-calculate-the-precise-power-on-the-tx-and-rx-pin 

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/595684/iwr1443-coherent-and-non-coherent-processing-gain-summary 

https://e2e.ti.com/support/rf-microwave-group/rf-microwave/f/rf-microwave-forum/1118993/total-measurement-time-in-radar-equation 

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/595225/range-fft-processing-details 

FFT 处理增益源于 FFT 的性质、并随着频段数量的增加而增加。 或者使用等式 FFT GAIN = 10*log (Nfft/2)、其中 Nfft 是 FFT bin 大小。 多个 RX 天线的组合还会带来额外的处理增益。 这是不相干的处理增益、因为我们会在检测前对天线中的功率求和。

此致、

TIM

您好、Tim

感谢您的答复。

如果使用公式计算 rx_power (dBm)等于-30dBm 并使用以下公式转换为电压、可以回答正确吗？

V=sqrt ((10 (dBm/10))∗0.001∗R)、其中 R 为50 Ω。

转换为 Voltage 后、我使用 ADC (12位)计算该值。

在此项目(2T3R)中、我使用 HWA 执行 Range_FFT (FFT Size = 64)和多普勒_FFT (FFT Size = 128)。

完成这些计算后、我可以得到 RD 映射中显示的实数 peakVal、我对吗？

您能帮我计算此条件下的实数 peakVal 吗？

此致。

贾斯珀

贾斯珀、您好！

您的计算对我来说似乎是正确的- PeakVals 将在您解释时显示在 RD 热图中。

此致、

TIM

您好、Tim

您能给我一个例子(Rx 功率=-30dBm)来计算实际 PeakVal 吗？

此致。

贾斯珀

贾斯珀、您好！

我不确定你在这里的例子是什么意思-你上面的计算可以用来设计一个假设的例子。

我建议您使用我们的雷达模块和角反射器收集一些数据、以便可以通过实验看到已知 RCS 角落的峰值。

此致、

TIM

您好、Tim

我想您不能解决我的问题、请不要自己解决这个问题。

目前、我们使用距离为2m 的拐角(RCS=10dBsm)来测量 RCS。

蓝线为距离剖面、拐角处为2m。

橙色线是没有物体的距离剖面。

peakVal 以 dB 刻度(20*log10())表示。

您能否回答以下问题：如何使用公式获取此值？

您好！

我很抱歉-我需要查看更多内容并在内部进行讨论、然后我将在此处提供回复。

此致、

TIM

您好、Tim

是否有更新？

贾斯珀

贾斯珀、您好！

不、抱歉-我们下周将一探究竟。
此致、

TIM

您好、Jasper：

Tim 正在休假、因此我可以通过这个 E2E 主题为您提供帮助。   

您能否分享原始帖子上的以下 Excel 表格？  您的目标是否在5.856m 的视场内、如下图所示？  

如果您有 dBFS、并且如果您具有 ADC 数据、您应该能够看到它匹配程度。   

您计算理论 peakVal 的目标是什么？  说实话、理论结果与测量结果通常很难匹配。  它花费了大量的努力、您可能仍然会发现它不够接近。  

此致！

Zigang

您好、Zigang

感谢您的答复。

我将拐角(RCS=10dBsm)放置在2m 处、并在上图中测量。 和公式如下：

作为系统工程师、我需要定义规范以确保 PCBA 性能符合另一个 E2E 链接：

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1062043/awr1843-how-to-evaluate-pcb-board-performance-and-problems?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=AWR1843%252525252520PCB#

因此、我们在我们的试验箱中设置了一个用于测量 SNR 的实验。

或者、您有评估 PCBA 性能的最佳方法吗？

我只想知道 TI 如何在 SDK 中从模拟信号到 RD MAP 计算该值、无论该值与实验值是否接近。

此致。

贾斯珀

您好、Jasper：

如果您的目标是比较 PCB 板的性能、是否可以使用相同的设置、然后尝试使用 TI EVM 和您的电路板来查看有何差异？  由于您具有相同的线性调频脉冲、相同的目标(相同的 RCS)、相同的距离、相同的过程增益。  唯一的区别应该是您的天线增益和迹线损耗差异。  

此致！

Zigang

您好、Zignag

这不是一个好主意、因为我使用不同的 TI EVM 来测量 SNR 并获取不同的结果。  您可能会说这是试验容限。

也许我可以向您提出另一个问题、让您清楚地知道我想要什么：TI 如何定义规格来检查 SNR 是否正常？ 在 TI EVM 中可以接受 SNR 有什么价值？为什么？

此致。

贾斯珀

您好、Jasper：

这是一个好问题。  在器件级别、团队将测量 TX 功率并测量本底噪声。  在 EVM 级别、我需要检查我们是执行任何测试来检查 TX 天线增益还是 RX 天线增益。   这些信息会有所帮助吗？

此致！

Zigang

我将该 e2e 主题转发给我们的 PCB 设计团队、以提供帮助。

此致！

Zigang  

您好、Zigang

我不但喜欢检查 T/SDK 天线增益、而且喜欢知道如何在 TI Rx 中获取 peakVal。

此致。

贾斯珀

贾斯珀、您好！
首先、设计的 SNR 性能及其测量取决于 TX/RX 天线增益、物体的 RCS、路径损耗、环境/噪声、迹线损耗、过程增益等许多因素 因此、如果要评估设计性能、应将电路板的 SNR 与已知的经过验证的设计(例如 TI EVM)进行比较、然后使用相同的设置执行测量。
您可能需要考虑使用具有已知 RCS 且与天线/板保持固定距离的角反射器。 请在 EVM 和您的数据采集设计上使用相同的 appimage/FW、相同的线性调频脉冲/剖面配置。 使用相同的代码来处理从 EVM 以及从 PCB 采集的数据、以消除处理过程中引起的增益差异。 2D-FFT 中的非零多普勒频段将为您提供本底噪声、而接近零的多普勒频段将为您提供信号功率。 您可以计算角反射器落在的距离库处的 SNR。 EVM 和 PCB 之间的 SNR 差异应考虑天线增益和布线损耗差异。 XWRL1432BOOST 在不同的天线对上具有大约5-6dBi 的天线增益。

谢谢。此致、
Sivaprasad

您好、Sivaprasad

感谢您的答复。 在 TI 网站上、如果没有竞争对手、如何检查 EVM 性能？

或者、使用 EVM 之前、如何评估性能？

此致。

贾斯珀