[参考译文] SN74AXC4T774：申请 SPICE 模型–SN74AXC4T774

以下是我们的 SN74AXC4T774 仿真规格：

输入规格：

• 信号 A1 ：3.3V 振幅、100MHz 频率
• 吨 ：5ns
• 时间段 : 10ns.
• 占空比 ：50%
• VCCA ：3.3V
• VCCB ：0.8V - 2.5V
• 压摆率： 5000V/μ s

在输出 B1 处观察到的行为：

根据仿真结果、我们有一些问题：

1. 模型在以下情况下无法正常工作 VCCB 低于 1.5V 。 例如、包含 VCCA = 3.3V 和 VCCB = 1.1V 、输出失败。
2. 。 TON 和 Toff 持续时间 输出端的电阻与预期值不匹配、无论输入频率如何都是如此。 我们还使用较低的频率进行了测试、但问题仍然存在。
3. 关于.PARAM TPDELAY1 = 1N模型中的行—我们想确认此参数是否表示 传播延迟 、如果进行修改、则可能有助于纠正时间不匹配。
4. 当 VCCB 的电压较高时、Toff 持续时间有所改善、但随着 VCCB 的降低、Toff 持续时间会变得不那么准确或降低。
   
   附加图像以供参考。
   
   VCCB 的输出为 2.5V：
   
   VCCB 的输出为 1.5V：
   
   VCCB 的输出为 1.2V：
   

您好 Ajith、

SPICE 模型由之前的应用工程师创建、因此很遗憾、我不知道有关如何创建该模型的所有详细信息。  

估算最大数据速率的一种好方法是使用以下公式： 1/ tpd 。 如果我们使用 VCCA = 3.3V、VCCB= 1.2V、则 tpd 将为 8ns。 这意味着最大数据速率约为 125Mbps 或 62.5MHz。 如果我们在使用 VCCB = 1.2V 时将频率降低至 40MHz、输出完整性会提高吗？

如果您有 hyperlynx 或 ADS、我建议您改用我们的 IBIS 模型。 IBIS 模型应该是对 PSPICE 模型的改进。

此致、

Josh

我们使用您提供的公式应用了与每个电压电平对应的频率、但结果不符合我们的预期。 此外、我们还观察到占空比的变化、特别是 吨 持续时间在增加 TOFF 在减小。

您好 Ajith、

这不是器件本身的问题、而是 PSPICE 模型的问题。 我之前在实际器件上没有看到 Ton 和 Toff 问题。

如果有用、我可以使用您的测试条件使用 AXC4T774 捕获一些波形。 希望这可以帮助验证实际器件是否不像 IBIS 模型所说的那样运行。

此致、

Josh  

以下是我们的电压电平转换 (A→B) 测试条件。 请捕获波形。

• 转换方向 ：从通道 A（输入）到通道 B（输出）
• VCCA（输入电源电压） ：3.3V（固定）
• VCCB（输出电源电压） ：可配置—0.8V、1.2V、1.5V、1.8V、2.5V 3.3V
• 输入信号特性（A1 通道） ：
  • 电压电平：3.3V
  • 频率：100MHz
  • 占空比：50%
  • 上升时间：0.66ns
  • 下降时间：0.66ns
• 输出监控 :信号将被探测到 B1 通道
• 安全 :在定义的输入条件和占空比下验证所有 VCCB 电压配置之间的电平转换是否正确。

您好 Ajith、

感谢您提供测试条件。 我将尝试通过星期五完成这些测量。

此致、

Josh

您好、Josh、  
轻轻提醒一下波形。 请在完成测试时通知我。
此致、
Ajith

您好、Josh、

感谢您的澄清。 您还能分享传播延迟和输入波形。

此致、

Ajith。

您好 Ajith、

遗憾的是、由于 EVM 设置、我无法捕获干净的波形、因为我使用的是 SN74AXC4T774-EVM 上的整个输入接头

在将输入信号发送到 AXC-EVM 之前、先使用试验电路板捕获输入信号并没有产生良好的结果。  

明天我将尝试不同的设置、希望我能够捕捉到更好的信号。

此致、

Josh

感谢您先前提供的结果。 我们还需要测量传播延迟以进行以下电压转换：

• 3.3V→2.5V
• 3.3V→1.8V
• 3.3V→1.2V
• 3.3V→0.8V

输入将是上升时间为 1ns、频率为 100MHz 的方波。

请将光标放置在输入和输出信号的 50%阈值点处、以确保准确地测量传播延迟。

您好、Josh、

感谢您的更新。 我知道、使用您的电流信号发生器设置无法调整输入上升/下降时间。

鉴于此、是否可以与我们共享样片零件？ 我们希望在实验室环境中对其进行测试、以便更好地评估我们的条件下的行为。

此外、请随时按计划在下周前提交其余商品。

感谢您的支持！

此致、
Ajith V A.

您好 Ajith、

最简单的器件样片方法是使用 SN74AXC4T774EVM。该 EVM 已将器件焊接到电路板上。

如果您要为器件样品、则在“订购和质量“选项卡下有一个免费样品列。 您可以创建自己的分线板来测试器件、也可以使用我们提供的通用 EVM 之一：   

• 14-24 NL-LOGIC-EVM
• 14-24-LOGIC-EVM

此致、

Josh

您好、Josh、  

温馨提示、请尽快分享所需的波形。

此致、
Ajith。

您好 Ajith、

上周我无法获得波形、因此我深表歉意。 我会尽力让他们尽快。 谢谢！

此致、

Josh

您好、Josh、

非常感谢您分享最新的 AXC 测量结果—非常感谢！

此外、是否可以测量 传播延迟 (PD) 中的示例 SN65EPT21DGKR 功率器件吗？ 请参阅随附的原理图、如果您需要我这边的任何其他详细信息、请告知我。

...

此致、
Ajith V A.

您好 Ajith、

 SN65EPT21DGKR 由我们的姊妹产品系列提供支持。 我建议使用 SN65 器件型号提交另一个 E2E 主题。 通过这种方式、问题将提交给他们、并帮助您进行任何基准测量。 谢谢！

此致、

Josh