[参考译文] WEBENCH®︎工具/LM5122：适用于高电压输出的 Webench FET 适用性标准

您好、Lee、

感谢您的澄清。 我在这种情况下执行了一些操作、FET 选择是瓶颈。 我们无法找到能够满足热约束(FET 热阻、损耗等的函数)的 FET 它主要与流经 FET 的 RMS 电流有关。 当通过 FET 的平均电流较高时、RMS 电流较高。 当然、除了平均电流外、我们还使用电流纹波来计算最终 RMS 电流。 为了简化解释、我将为下面的平均输入电流假定无损方程：

IinAvg = Iout * Vout/VinMin (对于最坏情况的计算、我们使用 VinMin 进行升压)

如您所见、降低 Iout 或 Vout 并增加 VinMin 将导致 IinAvg 降低、从而降低 RMS 电流。 在本例中、您通过降低 Iout (1A -> 0.8A)或 Vout (84V->80V)以及增加 VinMin (10V -> 17V)来观察这一点。 RMS 电流越高、FET 的损耗越大、温度越高、从而导致工具中出现设计故障。 如您所见、较低的 IRMS 电流将为您提供通过设计的机会。

当您在电路板上实际创建设计时、其他因素可能会有所不同。 例如、我们工具中的 FET 热阻来自 FET 的数据表、该值通常用于特定的电路板。 您的电路板布局/覆铜厚度等可能不同、可能会导致 FET 的有效热阻较低或较高、这可能导致温度低于或高于我们的估计值。 我会为工具中的较低规格创建一个设计、并将其用作您使用此 IC 进行更深层次电路板测试的良好起点。 如果您有任何疑问、请告诉我、如果有更多帮助、请告诉我。

此致、

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