[参考译文] LAUNCHXL-CC1312R1：关于杂散。

您好！

由于主晶体使用此 频率生成射频、因此载波周围存在自然的48 MHz 杂散。 但是、48 MHz 杂散在监管限制范围内、因此在监管测试机构进行测试时、它们应该是一个问题。

这些值应低于监管限制、如果不符合、 请发布显示48 MHz 杂散的频谱图？  

您是单独使用 CC1312R 还是与 FEM 一起使用？

此致、

  Richard

尊敬的 Richard：

感谢您的答复。
在创建数据表时是否考虑了该晶振问题？
我想知道为创建数据表采取了哪些措施、因为它仅处于数据表的值之内。

TX 功率设置为12dB、几乎不在数据表中。




BR、
Kengo。

尊敬的 Richard：

很抱歉我的延迟回复。

我使用了您的 EVM。
所以,我不能理解为什么虚假出现。
然后、即使在调整 TCXO 的发送功率和容性负载后、也超过了标准值。
您能告诉我如何减少这个杂散吗？

您的 EVM 没有出现吗？

BR、
Kengo。

如果使用 TCXO：TCXO 可能会根据 TCXO 的类型提供杂散。 我曾经测试过3个不同的器件、这些器件给出了不同的性能。 作为一项测试、我会订购几个具有相同封装尺寸的不同 TCXO、并检查了对杂散的影响。   

有。 但效果不好。

>Richard、
我需要您的帮助。
因为我必须尽快进行认证测试。

BR、
Kengo。

请发布原理图的一部分、其中显示了使用的确切 TCXO 以及如何将其连接到 CC1312R。

对于引脚45 (VDDR)和引脚48 (VDDR_RF)、您有多大的去耦电容值？

您好、RGW、

对不起、我从这边过来。

相关器件的电路图如下所示。

您好！

您是否遵循 SWRA640应用手册中 TCXO 部分的所有建议？

https://www.tij.co.jp/jp/lit/swra640

请特别注意以下陈述：

使用 TCXO 时、必须减小内部负载电容器以避免加载 TCXO。 所需的设置将取决于所选的 TCXO。 关闭电容器阵列可能会导致某些 TCXO 的输出摆幅过大。 在这些情况下、电容器阵列中的电容器将有助于降低电压摆幅。 应正确设置电容器阵列的值、从而使 X48M_P 上的摆幅(最小和最大摆幅)处于 CC13x2数据表中设置的值的范围内。 进行测量时必须小心、以避免测量不会增加该节点的负载、否则会影响测量结果。

TCXO 的输出摆幅受到限制很重要、否则会导致更大的时钟杂散。

确保 TCXO 上的负载正确、因为根据数据表、它希望看到 10 kΩ//10 pF

200 [Ω]以串联方式连接到 TCXO 输出。

杂散会减少、但不符合规范。

使用 200欧姆的串联电阻器和电容器阵列。

电感

CC1312输入电平：0.66[Vp-p]

NT2016S B 输出电平：(min)

CC1312 48 MHz 时钟输入(TCXO)：更多需要0.8[Vp-p]

因此、 使用 200欧姆的串联电阻器不符合标准？

您好！

我们通常通过启用200欧姆电容器阵列的标准测试。 似乎您在去耦电容器上对焊盘48和45使用了100nF 值。 通过使用150 pF、您应该能够将时钟杂散进一步降低2dB。 你试过这个吗?  

我还没有尝试150pF 去耦电容器。
我将查看它。

我向 pF 和 C15添加了150 [C14]去耦电容、但没有变化。

您好！

是否可以稍微降低输出功率以使输出功率低于-55 dBm？

我们通常具有小于-70dBc 的杂散

降低发送功率不会改变 fc±48 [MHz]的杂散。
在评估板上观察到相同的症状。

您能否仅使用晶体而不是 TCXO 来测试这一点？

没有可测试晶体的环境。
然而、相似的症状已经在评估板上被证实。

您好、RGW、

随附是在 EVM 上执行的测试结果。
e2e.ti.com/.../4111.Test-result.pdf
我使用了三个 EVM 来检查结果、但超出了数据表中保证的伪波结果。
我相信这是一个问题。
您能否对 EVM 进行类似的评估并分享结果？

BR、
Kengo。

您好、RGW、

您能给我您的评论吗？

BR、
Kengo。

RGW、

我知道了。
我们的结果是在您的 EVM 上进行了测试。 所以使用晶体。

正如我之前所说的、您能否在测试条件下检查 EVM 的杂散？

您好！

我们将仅使用晶体在我们的 EVM 上再次进行此检查。 很快让您了解结果。

测量方法不正确。
RBW：100[kHz]（TX 频率≦710[MHz]）
RBW：1[MHz]（710[MHz]< TX 频率≦900[MHz]）
RBW：100[kHz]（900[MHz]<TX 频率≦915[MHz]）
RBW：100[kHz]（930[MHz]< TX 频率≦1000[MHz]）
RBW：1[MHz]（1000[MHz]<TX 频率）

是否考虑了连接电缆的损耗？

来判断、通过查看图像、

载波电平（922[MHz]）：12.13[dBm]

杂散电平（922[MHz]+48[MHz]）：-55.68[dBm]（12.13-67.81 μ）

如果电缆损耗 大于0.68dB、则说明为"ti"。

根据频谱分析仪测量结果、在最坏情况下并采用类似的 RBW 设置的情况下、执行了最大保持时间测量、旨在显示 LP-CC1312P 的默认设置的性能。

电缆损耗小于0.5dB

LP-CC1312P 的晶体上没有会导致更大48 MHz 时钟杂散的外部电容器。 当外部电容器与晶体一起使用时、时钟杂散将进一步降低2-3 dBS。

RGW

我们的测量结果为 CC1312R1。 不是 CC1312P。
为何要基于 CC1312P 进行测量？  
我认为带宽有所不同、但内部的1312P 和1312R1是相同的？

BR、
Kengo。

RGW

您能否就 CC1312R1给我评分？
我想在相同条件下对它们进行比较。

BR、
Kengo。