请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
部件号:TS5A23157-Q1 “线程:测试”中讨论的其它部件 ,TS5A23157
大家好,团队
最近,在客户的 PV 实验中,客户发现 TS5A23157DGSRA 软件包出现膨胀并失败,如下所示。

什么类型的问题或条件会导致芯片中出现这种现象?
在失败之前已进行了实验:
(1) 5点功能测试:温度25度,85度,-40度,输入电压(包括9V,16V),测试持续时间:5H。
(2)三项综合测试:高温85度,-40度,振动(16750标准客车),测试持续时间:24小时。
(3)机械碰撞测试:50g,10次/方向*6次方向。
在完成项目(3)的测试后,当确认整个机器的功能时,发现机器工作异常
对此有什么建议?