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[参考译文] TS5A23157-Q1:封装已被封装并失败

Guru**** 2479035 points
Other Parts Discussed in Thread: TS5A23157

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/switches-multiplexers-group/switches-multiplexers/f/switches-multiplexers-forum/1077695/ts5a23157-q1-package-bulged-and-failed

部件号:TS5A23157-Q1
“线程:测试”中讨论的其它部件 ,TS5A23157

大家好,团队

最近,在客户的 PV 实验中,客户发现 TS5A23157DGSRA 软件包出现膨胀并失败,如下所示。

什么类型的问题或条件会导致芯片中出现这种现象?

在失败之前已进行了实验:
(1) 5点功能测试:温度25度,85度,-40度,输入电压(包括9V,16V),测试持续时间:5H。
(2)三项综合测试:高温85度,-40度,振动(16750标准客车),测试持续时间:24小时。
(3)机械碰撞测试:50g,10次/方向*6次方向。
在完成项目(3)的测试后,当确认整个机器的功能时,发现机器工作异常

对此有什么建议?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好,Amelie,

     对于设备的任何输入,TS5A23157的额定电压都不超过5V。 如果该部件暴露在9V 和15V 下5小时,那么在该测试期间,该部件很可能受到严重损坏。

    请确保将这些零件保持在其建议的工作范围内,以避免发生这种情况。

    谢谢!

    布莱恩