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您好!
我的客户将 TS3A27518E 用于 SD 卡,如果在 SD 卡中运行“Passmark Burn”测试项目,则在使用 UHS-I (SDR104)卡时将发生100%的故障(无法访问 SD 卡)
我们想知道它可能是由总负载电容超过规格引起的。 最大值为40pF。 Value (host–PCB TRACE–switch–ESD 二极管–SD 卡插槽–SD 卡)
对于 TS3A27518E 开关的负载电容大约为21.5pF,是否有一个更低的负载电容开关解决方案可以替代 TS3A27518E?
或者您对此问题有任何建议?