大家好、
我们有一些问题需要您的帮助。
我们发现"NC"至"COM"的故障率较高。 "no"至"com"始终测试通过。
我们还将输入更改为"NC"连接到 I2S5、"NO"连接到 I2S3。 在"NC"至"COM"上仍然失败
该结构是 I2S 的环路测试、如下所示。
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大家好、
我们有一些问题需要您的帮助。
我们发现"NC"至"COM"的故障率较高。 "no"至"com"始终测试通过。
我们还将输入更改为"NC"连接到 I2S5、"NO"连接到 I2S3。 在"NC"至"COM"上仍然失败
该结构是 I2S 的环路测试、如下所示。
您好 Kate、
请参阅2个 txt 文件。 这是测试通过和失败记录。
我们将输出信号(I2S3和 I2S5)和 CPU 输入信号(I2S6)。 CPU 接收到信号后、CPU 将比较信号是否相同。
通过日志:
e2e.ti.com/.../I2S5-to-I2S6-pass.txt
失败日志:
e2e.ti.com/.../I2S3-to-I2S6-fail.txt
2.我们尝试将通道1和2更改为通道5和6。
NC 仍然具有较高的故障率、并且不会始终通过。
3和4。我们在测试时检查了每个通道和 IN1/IN2上的电压电平。 请参阅附件
测试失败时没有信号。
文件"电压电平 I2C3_DI-I2C6_DO"是一个传递信号(低通率)。
COM1→COM5-I2C3_DO-I2C6_DI
电压电平 CLK
电压电平 Fs
电压电平 I2C3_DI-I2C6_DO
电压电平 I2C3_DO-I2C6_DI
您好!
为了进一步说明、当信号连接到 COM 时、您能够测量 NC 处的信号。 但是、您的测试程序(将 COM 处的信号与 NC 处的信号进行比较)会给出"失败"结果。 是这样吗?
测试日志对我来说有点难理解、您能向我展示程序日志中的什么表示"失败"吗? 为什么使用此特定测试方法? 此测试程序的参数/标准是什么?
在您的波形中、我认为输出像预期的那样跟随输入。 请记住、开关并非完全"理想"、存在一些导通电阻和内部寄生效应(在数据表中指定)。 因此、如果您的测试程序具有非常低的裕度、这可能是它得出"失败"结果的原因。
此致、
Kate
您好 Kate、
为了进一步说明、当信号连接到 COM 时、您能够测量 NC 处的信号。 但是、您的测试程序(将 COM 处的信号与 NC 处的信号进行比较)会给出"失败"结果。 是这样吗? 答案:正确
测试日志对我来说有点难理解、您能向我展示程序日志中的什么表示"失败"吗? 为什么使用此特定测试方法? 此测试程序的参数/标准是什么?
答案:我们生成2KB 随机测试数据、从 I2S-3发送并从 I2S-6接收、但接收到的数据与发送的数据不一致、因此测试失败。
您好!
感谢您的确认。
您能否更详细地解释一下您收到的"不一致"数据的含义? 您是否知道这是数据的时序或数据的电压电平不一致?
您是否曾尝试使用 TS3A27518E 的新器件? "故障率"是否存在于多个不同的器件中?
您提供的波形看起来不错--输出 COM 看起来像发送输入 NC 一样,没有预期的变化。 开关输入和输出的波形通常是解决开关信号路径问题的最佳方法。
由于我不知道您的测试程序是如何工作的、因此我不知道会导致您的程序出现"失败"的原因。 您可能需要尝试仔细检查并调试测试程序。
此致、
Kate