[参考译文] MUX36S08：MUX36S08IPW 多路复用器 IC 发生故障、在引脚8和 GND 引脚之间观察到电阻变化

您好 Yuvakumar、

您能否与我们的开关以及您的测试布局分享您的系统原理图？

这将非常有助于为您的请求提供解决方案。

谢谢。

近红外  

您好 NIR Gilgur、

我附上了我们系统的示意图。

您好、Nil：

我在上面已经讲过了。

条件1：  

引脚8和 GND 上的电阻显示为1.8k。

条件2：

引脚5和 GND 之间的电阻显示为2.6K

只有这2个引脚的电阻最小、其余引脚的 W.R.F 接地其为高电阻、单位为兆欧。

我认为仅此特定端口就已损坏。

同样、在此之后、随着引脚4和 GND 之间的电阻减小、我们面临同样的问题、这是我们替换的第三个 IC。

更换后、它将运行良好3至4天、然后它将失败。

请为这个问题提出一个解决方案。

仅供参考：所有测量的电阻值均处于设备关闭状态。

嘿 Yuvakumar、

漏极和 S2引脚上的负 ESD 单元似乎发生了一些损坏。 您提到、不同器件的不同输入上发生了此情况(引脚5用于第一个实例、引脚4用于第二个实例)。 但两者都连接到压力传感器、因此我倾向于认为问题来自传感器产生的信号。 当这些二极管几天不被触摸时、损坏的唯一方法是某种过冲或欠冲条件、这可能导致一些过大电流通过这些正向偏置的 ESD 单元二极管并损坏它们。  
我知道这里很难问,因为它似乎每3天或4天发生一次,但有任何事件发生与损害一致。 理想情况下、监控温度感测的输入有助于更清楚地了解何时发生损坏。  

谢谢。
Rami

您好、Rami、

感谢您的反馈。

我们在持续监控该系统、但静态单元仍在测试中。

系统将能够正常工作、突然之间它产生异常值、如果我们在此阶段检查电阻、IC 可能变得糟糕、这就是我们在工作条件下观察到的情况。

欢迎提出任何避免这种损害的建议。

尊敬的 Yuvakumar：

遗憾的是、 在我们确定问题的根源之前、我们无法给出任何建议。

请持续监控系统、并让我们知道测试结果是什么。  

谢谢。
近红外