[参考译文] WL1831MOD：WL1831温度周期测试失败

尊敬的 TI：
抱歉、测试实际上不是温度循环测试、而是热冲击测试。

Vihang 您好：

   谢谢！

    ℃℃：WL1831数据表的信息、温度范围为-40 ̊ C 至85 ̊ C

尊敬的 Eric：

您是否正在使用 WL1831MOD 模块？ 还是芯片设计？

此致、
Vihang

Vihang 您好：
   客户使用 WL1831GYFVR 设计产品、而不使用 WL1831MOD。

此致。

沈家祥

您好、Riz、  

客户使用我们的 IC 而非模块、因此工作温度范围为-40~85。 测试4个、发现4个故障。  

测试条件如下：  

温度周期测试、-30~80、周期时间为2H、周期为3000；

2.未通电的系统

在测试之前、测试功能是否正常

完成3000个周期的温度测试后、将产品保持在正常温度约25 2小时、开机、查找功能故障、UART 可以加载堆栈代码。  

故障状态是 RTS 引脚始终处于高电平、因此 UART 无法正常工作。  

您好！

线路上是否有下拉或下拉电阻器？ 如果删除、它是否起作用？ 我想了解它是 IC 还是支持电路的故障。

1) 1)您是否对电路板进行了 X 射线检查、以确保 IC 下方没有焊锡空隙？ 板上的其他器件？
2) 2)该器件下是否有足够的接地遵循我们的 IC 设计规则？

谢谢、
Riz

您好、Riz、  

测试前、功能正常、测试后、执行相同的功能测试、失败。 我们已经查看了 sch 和 PCB 布局。 找不到任何问题。  

另一个是更改新的 WL1831、PCBA 再次正常。 因此、我们考虑 IC 损坏。  

我们不会针对广泛的故障执行 X 射线处理。  

您好！

是的、我了解温度周期后出现故障、正常启动。 我想知道的是焊接的效果如何。 如果开始的是"周"、则大于30%的空洞、那么温度循环可能会导致损坏。 因此、X 射线对于回顾和回顾非常重要。

还有几个问题。

1) 1)这种情况发生在多少个电路板上？
2) 2)您测试了多少个
3) 3)更换 IC 并重新测试温度循环时、是否通过？

谢谢、
Riz

您好、Riz、  

仍然无法解决问题、我已向您发送邮件、但直到现在才收到您的反馈。

我要求客户再次进行测试、但时间很长。