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器件型号：CC2652P7工具/软件：
关于 802.15.4：
我们可以获取 CC2652R7 的过采样 IQ 样本进行相位测量吗？
我们的技术团队正在寻找研发目的。
我们目前正在探索用于研发目的的先进相位测量技术、并正在评估的功能 CC2652 无线 MCU 上。 具体而言、我们的技术团队想知道是否有可能 访问过采样 I/Q 样本 进行测试 相位测量和分析 。
请确认以下几点：
- CC2652 是提供对原始还是过采样 I/Q 数据的访问
- 启用此类访问的任何现有 SDK 支持、API 挂钩或内部寄存器
- 用于启用此类数据提取的建议工具或开发程序
我们知道这可能属于较低级别的无线电操作、因此非常感谢您提供的任何文档、示例项目或指导。
期待您的支持。
