Thread 中讨论的其他器件:Z-stack、
您好!
我正在尝试 通过 SmartRF06EB 对外部目标器件进行编程。
我遵循了此文档"swru321aSmartRF06EB 用户指南.pdf" ,第7章 :使用 SmartRF06EB 调试外部目标。
我的外部目标器件是 CC2630 5x5 RHB 封装、我正在尝试运行示例开关 Z-stack 应用。
我的 Win7检测 USB XDS 仿真器、还检测到目标设备 CC2630。
但是当我刷写设备时,它会抛出以下错误:
SAT 2017年1月21日18:50:31:连接到 TI XDS100v3 (探测编号:12210A7C) com[-/4]
SAT 1月21日18:58:18:致命错误:无法连接到 XDS 仿真器(连接 ICEPick)... (错误-233 @ 0x0) JTAG IR 和 DR 扫描路径不能循环位、它们可能会损坏。 尝试扫描 JTAG 扫描路径失败。 目标的 JTAG 扫描路径似乎因卡在一个位置或卡在零位置故障而损坏。 (仿真包6.0.228.0)会话中止!
SAT 1月21日18:58:18:空载宏文件:C:\IAR\Embedded_arM_7.8.3\arm\config\flashloader\TexasInstruments\FlashCC26xx.Mac
SAT 1月21日18:58:18:无法加载闪存加载程序:C:\IAR\Embedded_arM_7.8.3\arm\config\flashloader\TexasInstruments\FlashCC26xxF128RAM20.FLASH
谢谢
AJ