TMS320F28034: 按照IEC60730_STL例程，我运行自检，自检在25ms轮询中，发现误报率很高，然后发现轮询时间越短，报错率越高，这正常吗

主要是FLASH和RAM自检

您好，我已经向相关工程师咨询。有了结果我会第一时间回复

您好，当您运行自检时，有无修改例程？

减少轮询时间具体指什么呢？是减少了STL_TEST_REPORT_TIMER_configTimer()的周期还是修改了其它参数？

周期时间减短了，目前改为了25ms时间触发来进行自检，例程的话原来的RAM自检改为了12，23，34的方式进行自检,FLASH自检方式不变，发现大概5分钟左右会报RAM/FALSH故障，而且其他中断定时器会停止工作

Hi,

能否明确一下具体是修改了哪些参数？谢谢

就是原来不是100*10 = 1s吗，改成了25*1，25ms，然后主要是RAM自检这里出问题，原先是0x8000-9800,现在是0x8000-0x8004,0x8002-0x8006,逐个检查，

Hi,

方便的话最好把具体修改了哪个变量或宏告诉我，因为我需要和相关的工程师交流。我对这一块确实不是很了解，这样能方便快速定位问题。非常感谢！