按照IEC60730_STL例程,我运行自检,自检在25ms轮询中,发现误报率很高,然后发现轮询时间越短,报错率越高,这正常吗
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周期时间减短了,目前改为了25ms时间触发来进行自检,例程的话原来的RAM自检改为了12,23,34的方式进行自检,FLASH自检方式不变,发现大概5分钟左右会报RAM/FALSH故障,而且其他中断定时器会停止工作
就是原来不是100*10 = 1s吗,改成了25*1,25ms,然后主要是RAM自检这里出问题,原先是0x8000-9800,现在是0x8000-0x8004,0x8002-0x8006,逐个检查,
Hi,
方便的话最好把具体修改了哪个变量或宏告诉我,因为我需要和相关的工程师交流。我对这一块确实不是很了解,这样能方便快速定位问题。非常感谢!