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IEC60730 STL软件包中对Flash等NV Memory区域进行了CRC校验，使用了之前未公开的PSA模块，对于这个模块能否公布更多的资料？
另外，对Flash区域做CRC校验实际上就是对程序完整性的检验，这个过程放在Main函数中进行总觉得有点问题，能否公布相关方案和例程，把这个过程放在二次boot中进行，如果检测失败就不进main函数了
关于PSA的说明，都在IEC60730的user guide中了。
关于flash 的CRC检测，不建议你这么做。那些过安全认证的都是对flash CRC进行周期性检测的。应为检测时间过长，所以需要稍微修改例程中的代码，将一个扇区划分成一个个小块。
ERIC
对STL软件包我还有一个疑问，为什么在进行RAM的MARCH TEST的时候，程序限定RAM最大是65535，也就是64k？如果我通过XINTF外扩一块SRAM，大小是1M*16bit 如何使用这个例程进行检测？是不是要分成16个分区来检测？
