TMS320F28054F-Q1: 高温环境测试时芯片损坏

Part Number: TMS320F28054F-Q1

  我的测试条件为85℃的恒温箱,放置了10h以上,控制器连接电机做高温启动实验,实验中一次上电发现无反应;恢复常温后烧录程序显示的错误为芯片可能lock,而硬件测试芯片的3.3V短路。

这种情况是否是由于芯片达到结温损坏的,或是其他原因导致?请帮助我分析