• 状态
  • 回复 4 回复
  • 订户 12 订户
  • 视图 48 视图
  • 用户 0 会员在此处
选项
选项
相关

LMG3411R150: 一体式1.2KW电机驱动器，LMG3411R150驱动PMSM FAULT异常触发

hui liu
Prodigy 10 points

Part Number: LMG3411R150
Other Parts Discussed in Thread: TIDA-00915

按照官方给的TIDA-00915设计方案，设计的1.2KW驱动电路，目前测试遇到以下几个问题。

整体设计架构：驱动板（六路GaN）-->排针-->控制板（隔离芯片+MCU）

1、低压测试：驱动板功低压48V开环测试电机可以正常运行（程序屏蔽了FAULT信号的输入），FAULT信号一直会叠加干扰信号，将排针上的FAULT信号断开直接测试芯片引脚的FAULT信号已经叠加了干扰信号（干扰信号毛刺测试为控制信号的20KHz）。20KHz的控制信号隔离输出侧无异常。

2、高压测试：DC300V开环测试电机GaN芯片损坏，损坏原因可能是瞬时的直通造成的炸机，原因目前没有分析出来。测试死区时间是600nS。准备先50%的PWM测试高压信号波形是否正常。
 
 
  • 0
    TI__Mastermind 49010 points

    您好，
    已经收到了您的案例，调查需要些时间，感谢您的耐心等待。

  • 0
    TI__Prodigy 30 points

    你好，

    请问能否分享一下您的设计原理图？
    另外，你的原理图和TIDA的原理图在电阻/电容/电感值、转换电阻等参数方面有什么区别？

    针对已报告的问题，我还有以下疑问——

    1. 低电压测试：我认为您报告的是器件的 FAULT 引脚上存在噪声。考虑到您已将 FAULT 信号从接头上断开，但仍然报告引脚上有噪声，这证实噪声并非来自控制器。您所说的干扰信号具体指的是什么？您是否故意通过控制器信号注入这些信号来测试器件稳定性？如果是，这些干扰信号的性质是什么？FAULT 引脚信号的性质是什么（如果您有波形图，可以分享一下）？此外，噪声也可能是由于布局效率低下导致耦合到 FAULT 引脚，因此需要重新检查布局。

    2. 高压测试 - 死区时间为 600ns，电压为 300V，报告的转换速率为 300/600 = 0.5V/ns。您是否使用了任何外部电阻来降低转换速率？

    问候，

    舒鲁蒂

  • 0
    TI__Prodigy 30 points

    你好，

    请问能否分享一下您的设计原理图？
    另外，你的原理图和TIDA的原理图在电阻/电容/电感值、转换电阻等参数方面有什么区别？

    针对已报告的问题，我还有以下疑问——

    1. 低电压测试：我认为您报告的是器件的 FAULT 引脚上存在噪声。考虑到您已将 FAULT 信号从接头上断开，但仍然报告引脚上有噪声，这证实噪声并非来自控制器。您所说的干扰信号具体指的是什么？您是否故意通过控制器信号注入这些信号来测试器件稳定性？如果是，这些干扰信号的性质是什么？FAULT 引脚信号的性质是什么（如果您有波形图，可以分享一下）？此外，噪声也可能是由于布局效率低下导致耦合到 FAULT 引脚，因此需要重新检查布局。

    2. 高压测试 - 死区时间为 600ns，电压为 300V，报告的转换速率为 300/600 = 0.5V/ns。您是否使用了任何外部电阻来降低转换速率？

    问候，

    舒鲁蒂

  • 0
    TI__Prodigy 30 points

    你好，

    请问能否分享一下您的设计原理图？
    另外，你的原理图和TIDA的原理图在电阻/电容/电感值、转换电阻等参数方面有什么区别？

    针对已报告的问题，我还有以下疑问——

    1. 低电压测试：我认为您报告的是器件的 FAULT 引脚上存在噪声。考虑到您已将 FAULT 信号从接头上断开，但仍然报告引脚上有噪声，这证实噪声并非来自控制器。您所说的干扰信号具体指的是什么？您是否故意通过控制器信号注入这些信号来测试器件稳定性？如果是，这些干扰信号的性质是什么？FAULT 引脚信号的性质是什么（如果您有波形图，可以分享一下）？此外，噪声也可能是由于布局效率低下导致耦合到 FAULT 引脚，因此需要重新检查布局。

    2. 高压测试 - 死区时间为 600ns，电压为 300V，报告的转换速率为 300/600 = 0.5V/ns。您是否使用了任何外部电阻来降低转换速率？

    问候，

    舒鲁蒂