UC2845: 技術支援:關於 UC2845 改用二極體與加入軟啟動對消除空白期之影響諮詢

Part Number: UC2845

TI 技術支援團隊 您好:

我目前正在使用 UC2845 設計 Flyback Converter。由於特定應用需求,我們修改了參考設計,將原本建議的電晶體更換為二極體 1N4148。

在最初的啟動測試中(如附件 3Rsn.png 所示),我們觀察到一個明顯的空白,大約持續 13.6 ms,此時切換動作短暫停止,隨後才恢復正常運作。此時 CH1 的峰值電壓達到 1.30 kV,CH2 的峰值電流達到 3.30 A

為了優化此現象,我們加入了軟啟動機制。如最新波形圖 RigolDS50.png 所示:

  • 該 13.6 ms 的空白期已完全消失。

  • 轉換器在啟動後,直接且平滑地進入了持續切換的工作狀態。

  • CH1 的最大電壓應力降至 801.06 V,CH2 的峰值電流降至 993.33 mA

我們想向 TI 請教的技術問題:

  1. 這樣的行為是否被允許且安全? 透過軟啟動成功消除空白期,是否證實了原本的空白期只是因為在啟動瞬間觸發了晶片的暫態保護(例如過流 OCP 或欠壓 UVLO)?

  2. 晶片內部的控制邏輯是否允許系統長期以這種方式運行,而不會對內部的迴路穩定性帶來隱形風險?

  3. 鑑於規格書原本使用的是電晶體,在某些極端條件下(如輕載啟動、重載突變或極端溫度),改用二極體(即使加了軟啟動)是否仍可能導致晶片動作異常或失效?

我已附上 3Rsn.png(加軟啟動前)與 RigolDS50.png / RigolDS56.png(加軟啟動後 / 放大)供您詳細分析。

感謝您的寶貴建議。

祝 順心

 

吳建緯 新代科技股份有限公司 / 研發三部

jianwei.wu@syntecclub.com.tw

3Rsn.png

RigolDS50.png

RigolDS56.png