UC2845: 技術支援:關於 UC2845 改用二極體與加入軟啟動對消除空白期之影響諮詢

Part Number: UC2845

TI 技術支援團隊 您好:

我目前正在使用 UC2845 設計 Flyback Converter。由於特定應用需求,我們修改了參考設計,將原本建議的電晶體更換為二極體 1N4148。

在最初的啟動測試中(如附件 3Rsn.png 所示),我們觀察到一個明顯的空白,大約持續 13.6 ms,此時切換動作短暫停止,隨後才恢復正常運作。此時 CH1 的峰值電壓達到 1.30 kV,CH2 的峰值電流達到 3.30 A

為了優化此現象,我們加入了軟啟動機制。如最新波形圖 RigolDS50.png 所示:

  • 該 13.6 ms 的空白期已完全消失。

  • 轉換器在啟動後,直接且平滑地進入了持續切換的工作狀態。

  • CH1 的最大電壓應力降至 801.06 V,CH2 的峰值電流降至 993.33 mA

我們想向 TI 請教的技術問題:

  1. 這樣的行為是否被允許且安全? 透過軟啟動成功消除空白期,是否證實了原本的空白期只是因為在啟動瞬間觸發了晶片的暫態保護(例如過流 OCP 或欠壓 UVLO)?

  2. 晶片內部的控制邏輯是否允許系統長期以這種方式運行,而不會對內部的迴路穩定性帶來隱形風險?

  3. 鑑於規格書原本使用的是電晶體,在某些極端條件下(如輕載啟動、重載突變或極端溫度),改用二極體(即使加了軟啟動)是否仍可能導致晶片動作異常或失效?

我已附上 3Rsn.png(加軟啟動前)與 RigolDS50.png / RigolDS56.png(加軟啟動後 / 放大)供您詳細分析。

感謝您的寶貴建議。

祝 順心

 

吳建緯 新代科技股份有限公司 / 研發三部

jianwei.wu@syntecclub.com.tw

3Rsn.png

RigolDS50.png

RigolDS56.png

  • 感谢您对TI产品的关注。
    我们正在核实您的问题,请等待我们的答复。

  • 你好,

    这种做法是否允许且安全?如果通过软启动成功消除了空白期,这是否证实最初的空白期仅仅是由于芯片的瞬态保护(例如过流保护 (OCP) 或欠压锁定 (UVLO))在启动瞬间被触发所致?

    您需要确定由此产生的电压和电流应力是否适合您的变压器、FET 和其他元件的功率级设计。

    您提供的波形图无法解释空白期的原因。请在不连接启动电路的情况下,捕获启动过程中 VDD、CS、COMP 和 OUT 引脚的波形。

    芯片的内部控制逻辑是否允许系统以这种方式长时间运行,而不会对内部电路的稳定性造成潜在风险?

    添加启动电路后,没有出现任何异常情况,所以无需担心。

    如果您对未连接启动电路时观察到的异常行为感到担忧,我们首先需要了解导致这种行为的原因。请在未连接启动电路的情况下,提供 VDD 和 CS 引脚。

    鉴于原始规范使用了晶体管,在某些极端条件下(例如轻载启动、重载突变或极端温度),切换到二极管(即使采用软启动)是否仍然可能导致芯片运行异常或故障?

    二极管应该能够承受与场效应晶体管 (FET) 相同的应力。如果您问的是用二极管替换 FET 是否会导致 UC2845 芯片工作异常,答案是否定的。

    谢谢,

    约翰