BQ40Z50-R1: BQ40Z50R1芯片Shutdown后FUSE引脚异常拉高

Part Number: BQ40Z50-R1

不良主题:BQ40Z50R1芯片下发Shutdown指令后,FUSE控制引脚异常拉高,导致电池包三端保险丝熔断、整机无法充电

不良现象详细描述:

量产4串三元锂电池包,出厂前功能测试、老化测试全部合格,样品交付客户后,客户反馈部分电池包无法充电。

针对客户退回不良样品,我们开展专项复盘测试与波形抓取,定位核心异常问题:

1. 触发条件:向BQ40Z50R1芯片下发Shutdown关机指令后触发异常;

2. 异常表现:芯片FUSE控制引脚被异常拉高,示波器实测引脚电压约6.1V;

3. 故障后果:FUSE控制引脚外接三端保险丝控制电路,引脚高压会在电池包Shutdown关机模式下,误触发三端保险丝熔断,直接导致电池包永久无法充电;

4. 特殊现象:芯片PF_EN功能处于未开启状态,按照官方手册定义,Shutdown关机逻辑与FUSE引脚控制无直接关联,但仍出现引脚异常拉高问题。

BQ40Z50R1芯片关机后FUSE引脚异常拉高不良分析报告.docx