我们公司的电源模块使用了贵司LM5101ASDX/NOPB 的Drive, 产品在做TCT温循(-45~125度,每小时循环一次)700个循环时发生失效,FA分析定位不良位置都是在Drive 上面,我们对不良品做了一些切片,发现都是焊点开裂,而且开裂的位置都是靠近元器件本体的焊接层,需要贵司帮忙分析一下失效原因,我们的电源模块PCB 厚度是3.8mm, 层数是18层,附上的是一些切片图片,有任何回复请帮忙反馈给 lillian.li073@murata.com ,谢谢!
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我们公司的电源模块使用了贵司LM5101ASDX/NOPB 的Drive, 产品在做TCT温循(-45~125度,每小时循环一次)700个循环时发生失效,FA分析定位不良位置都是在Drive 上面,我们对不良品做了一些切片,发现都是焊点开裂,而且开裂的位置都是靠近元器件本体的焊接层,需要贵司帮忙分析一下失效原因,我们的电源模块PCB 厚度是3.8mm, 层数是18层,附上的是一些切片图片,有任何回复请帮忙反馈给 lillian.li073@murata.com ,谢谢!
因为我们公司3D显微镜放大倍数有限,焊点清晰度不高,切片的图片是第三方实验室拍的很清晰。焊点开裂是在经过TCT 700个循环后进行功能测试发现失效,然后定位到Drive 没有输出,做切片才发现是焊点开裂的。做切片时从做到右每排焊点各切了一刀,附上5排焊点做切片的全图给你们参考。
Hi
也就是锡裂导致的虚焊,如果是的话需要确认锡膏。
然后就是确认芯片pin脚是否氧化导致吃锡(焊接)不良。