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BQ27426: BQ27426 上电后i2c无法正常通信

zhangxiaolong
Prodigy 30 points
Part Number: BQ27426


我们BQ27426设计框图如下， BUB为外接锂电池（3.8V），MCU供电通过其他电源B+生成的3.3V供电。

故障现象： B+先不上电情况下，只插入电池（此时电量计已经上电）。 然后再给B+上电后，MCU通过I2C访问电量计发现通信失败。失效比例约1/4000。

故障样机增加BAT 电容，1uf→22uf，可以较低失效概率（即每次重新插拔bub电池，可能会出现可以正常通信的情况）。然后BAT pin电容恢复为1uf，故障现象又恢复成稳定必现无法正常通信。

但是正常的样机增加电容或者直接去掉1uf电容，都不会出现无法通信的问题。

想咨询下出现这种故障的原因是什么？是否可以确定故障的电量计芯片内部存在某种异常？

  • 0
    TI__Guru*** 130456 points

    您好，出现这种故障的芯片做一下交叉验证，看一下现象是不是跟着芯片走，确认是芯片的问题还是板子的问题。

  • 0
    Prodigy 30 points

    您好，我们这个新产品已经生产了50000台左右。共出现了12pcs不良。

    最开始出现故障的样机经过和好的样机交叉验证后，故障消失。再把故障芯片恢复到原来的样机，故障也不复现。我们怀疑高温加热可能会导致故障消失，故而后续的样机并没有首先作交叉验证。

    我们也尝试作了很多实验：

    1. 和TI FAE确认电量计外围设计都没有问题。

    2.去掉load sw 让bub 直接与电量计连接。还是存在故障

    3.使用退出RAM模式的命令还是无法让故障样机恢复。

    4.使用RAM模式的I2C地址通信，还是无法正常通信。

    5.拆除BIN下拉的电阻，保持BIN悬空。故障仍然在。重新焊接BIN外接下拉电阻也是故障无法恢复。

    如果是这种情况，是否有可能高温加热导致电量计内部某种特性改变？您是否还有其他不交叉验证的情况下可以验证的方案或者定位的手段？

    以上，谢谢~

  • 0 回复 zhangxiaolong
    TI__Guru*** 130456 points

    您好，我们知道BAT 突然（例如几纳秒）降至 0V 会导致内部电路出现问题，从而使 VDD 上的电容器快速放电，这可能会在 BAT 突然重新打开时阻止仪表正常启动。因此，如果您在调整 BAT 关闭/开启时间（斜率和持续时间）时看到可靠性发生变化，您可能会遇到这种行为。