在500V母线电压下,出现异常栅极驱动波形,具体如下:
如何解决此问题?
您好
针对UCC21520-Q1在双脉冲测试过程中高压测试出现栅极信号电压跌落的问题,可以采取以下措施:
优化自举电压稳定性:确保上管MOS的自举电压稳定,可以通过改进电路设计,如增强供电电源的稳定性,或采用线性DC source供电来减小MOSFET驱动上升沿的差异,从而提升栅极信号电压的稳定性。
增加外部钳位电路:在具有特别严重情况的系统中,如功率晶体管具有非常大的栅漏极电容时,需要增加外部钳位电路,以防止功率FET误导通,从而稳定栅极信号电压。
使用瞬态电压抑制器:考虑使用瞬态电压抑制器(TVS)来缓解过电压问题,为瞬态电流提供低阻抗路径,保护栅极驱动器不受高压尖峰的影响。
感谢你的回复,首先我要再强调的是,我们在MOSFET双脉冲测试VDS=470V时,上桥臂的电压电压正常,并且栅极驱动波形正常,没有出现跌落的情况。但是,一旦我们在测量上桥臂更高条件的情况时,就会出现栅极电压跌落并且再二次进行开管的情况。(类似于前一个窄脉冲出现上下桥臂Short的情况,总脉宽长度没有变化,能够符合我们信号发生器的脉宽长度)因此,我们想得到的解决办法是,如何抑制第一个窄脉冲,并且保证栅极开通的稳定性。后续我们需要做到VDS=900V条件,是否符合我们使用器件的要求?
还有我们想了解,如何给上桥臂VDD增加自举电路的典型应用,并且添加到我们现有的电路当中,谢谢!
您好
感谢你的回复,首先我要再强调的是,我们在MOSFET双脉冲测试VDS=470V时,上桥臂的电压电压正常,并且栅极驱动波形正常,没有出现跌落的情况。但是,一旦我们在测量上桥臂更高条件的情况时,就会出现栅极电压跌落并且再二次进行开管的情况。(类似于前一个窄脉冲出现上下桥臂Short的情况,总脉宽长度没有变化,能够符合我们信号发生器的脉宽长度)因此,我们想得到的解决办法是,如何抑制第一个窄脉冲,并且保证栅极开通的稳定性。后续我们需要做到VDS=900V条件,是否符合我们使用器件的要求?
根据您的描述和datasheet说明应该可以,但是建议您使用官方的参考模型仿真一下,这样确保正确而且可以避免IC损伤。
还有我们想了解,如何给上桥臂VDD增加自举电路的典型应用,并且添加到我们现有的电路当中,谢谢!
官方没有针对性的参考应用,但是官方有参考设计,您可以参考一下电路。
您好
UCC21520-Q1双脉冲实验开通尖峰
可能原因:
解决建议:检查并调整UCC21520-Q1的配置参数,确保其与电路电压相匹配;同时,考虑电路中的元件特性,进行必要的优化和调整。