UCC21520-Q1: 双脉冲测试过程中高压测试出现栅极信号电压跌落的情况,如何解决?uucc

Part Number: UCC21520-Q1

在500V母线电压下,出现异常栅极驱动波形,具体如下:

如何解决此问题?

  • 您好

    针对UCC21520-Q1在双脉冲测试过程中高压测试出现栅极信号电压跌落的问题,可以采取以下措施:

    • 优化自举电压稳定性‌:确保上管MOS的自举电压稳定,可以通过改进电路设计,如增强供电电源的稳定性,或采用线性DC source供电来减小MOSFET驱动上升沿的差异,从而提升栅极信号电压的稳定性‌。

    • 增加外部钳位电路‌:在具有特别严重情况的系统中,如功率晶体管具有非常大的栅漏极电容时,需要增加外部钳位电路,以防止功率FET误导通,从而稳定栅极信号电压‌。

    • 使用瞬态电压抑制器‌:考虑使用瞬态电压抑制器(TVS)来缓解过电压问题,为瞬态电流提供低阻抗路径,保护栅极驱动器不受高压尖峰的影响‌。

  • 感谢你的回复,首先我要再强调的是,我们在MOSFET双脉冲测试VDS=470V时,上桥臂的电压电压正常,并且栅极驱动波形正常,没有出现跌落的情况。但是,一旦我们在测量上桥臂更高条件的情况时,就会出现栅极电压跌落并且再二次进行开管的情况。(类似于前一个窄脉冲出现上下桥臂Short的情况,总脉宽长度没有变化,能够符合我们信号发生器的脉宽长度)因此,我们想得到的解决办法是,如何抑制第一个窄脉冲,并且保证栅极开通的稳定性。后续我们需要做到VDS=900V条件,是否符合我们使用器件的要求?

    还有我们想了解,如何给上桥臂VDD增加自举电路的典型应用,并且添加到我们现有的电路当中,谢谢!

  • 您好

    感谢你的回复,首先我要再强调的是,我们在MOSFET双脉冲测试VDS=470V时,上桥臂的电压电压正常,并且栅极驱动波形正常,没有出现跌落的情况。但是,一旦我们在测量上桥臂更高条件的情况时,就会出现栅极电压跌落并且再二次进行开管的情况。(类似于前一个窄脉冲出现上下桥臂Short的情况,总脉宽长度没有变化,能够符合我们信号发生器的脉宽长度)因此,我们想得到的解决办法是,如何抑制第一个窄脉冲,并且保证栅极开通的稳定性。后续我们需要做到VDS=900V条件,是否符合我们使用器件的要求?

    根据您的描述和datasheet说明应该可以,但是建议您使用官方的参考模型仿真一下,这样确保正确而且可以避免IC损伤。

    还有我们想了解,如何给上桥臂VDD增加自举电路的典型应用,并且添加到我们现有的电路当中,谢谢!

    官方没有针对性的参考应用,但是官方有参考设计,您可以参考一下电路。

    www.ti.com.cn/.../TIDA-01604

  • 非常感谢,已经解决,再问一个问题关于双脉冲实验,400V前双脉冲开通尖峰一直存在,但是400V后开通尖峰就没有啦,一般这个引起的原因是啥

  • 您好

    UCC21520-Q1双脉冲实验开通尖峰

    • 可能原因‌:

      • 电压影响‌:400V前后的电压变化可能影响驱动器的性能,如传播延迟、脉冲宽度失真等,进而影响开通尖峰的出现。
      • 电路特性‌:电路中的电感、电容等元件在高压下可能表现出不同的特性,从而影响尖峰的产生。
      • 驱动器配置‌:UCC21520-Q1的配置参数,如死区时间、重叠时间等,可能需要根据具体电压进行调整,以优化性能并减少尖峰。
    • 解决建议‌:检查并调整UCC21520-Q1的配置参数,确保其与电路电压相匹配;同时,考虑电路中的元件特性,进行必要的优化和调整。‌