LM5146: 空载情况下MOS管发热严重，查看波形发现上下管驱动没有死区。

您好

‌针对您设计的LM5146 DCDC电源在调试阶段出现的问题，包括使能瞬间的电流冲击、空载时输入端电流过大以及MOS管发热，以下是一些可能的解决方案‌：

1. ‌解决使能瞬间的电流冲击‌：

   • ‌增加软启动功能‌：LM5146支持可调节输出电压软启动‌，通过配置相关参数，可以减小电源在使能瞬间的电流冲击。
   • ‌检查输入电容‌：确保输入电容的容值和耐压值足够，以应对瞬间的大电流冲击。如果电容过小，可能会导致电压波动，进而引发电流冲击。
   • ‌优化布局和布线‌：确保功率路径回路尽量小，减少寄生电感和电容，从而降低电流冲击‌。

2. ‌降低空载时输入端电流‌：

   • ‌优化电路设计‌：检查电路设计是否存在冗余或不必要的功耗，如过大的偏置电流、不必要的负载等。
   • ‌调整反馈电路‌：通过调整反馈电路的参数，如反馈电阻和电容，可以优化电源的空载功耗，从而降低输入端电流。
   • ‌使用低功耗元件‌：选择低功耗的MOS管和其他元件，有助于降低整个电源的功耗。

3. ‌解决MOS管发热问题‌：

   • ‌检查MOS管选型‌：确保选用的MOS管具有足够的耐压和耐流能力，且导通电阻（RDS(on)）较小，以降低导通时的功耗和发热。
   • ‌优化驱动电路‌：检查MOS管的驱动电路，确保驱动电压和电流足够且稳定，避免驱动不足或过大导致的发热问题。
   • ‌加强散热措施‌：在MOS管周围增加散热片或风扇等散热措施，有助于将热量及时散发出去，降低MOS管的温度。

4. ‌处理HO和LO引脚同时导通的问题‌：

   • ‌检查死区时间设置‌：LM5146支持自适应死区时间控制‌，确保死区时间设置合理，以避免HO和LO引脚同时导通导致的短路和发热问题。
   • ‌优化栅极驱动电路‌：检查栅极驱动电路的设计，确保栅极电压的上升和下降沿陡峭且稳定，避免由于驱动信号延迟或抖动导致的HO和LO引脚同时导通。