在高压应用中串联IGBT，将UCC21750-Q1作为驱动芯片驱动IGBT开通与关断。由于设备输出电流较小，并未使能DESAT功能，将其与COM短接。使用过程中出现FAULT无端拉低的现象。为了解决问题尝试在DESAT和COM间加上一5.1V稳压二极管确保DESAT电位小于COM+9V，仍然出现FAULT拉低、IGBT误关断的现象。以下是我的局部原理图与PCB图。
Original question:
在高压应用中串联IGBT，将UCC21750-Q1作为驱动芯片驱动IGBT开通与关断。由于设备输出电流较小，并未使能DESAT功能，将其与COM短接。使用过程中出现FAULT无端拉低的现象。为了解决问题尝试在DESAT和COM间加上一5.1V稳压二极管确保DESAT电位小于COM+9V，仍然出现FAULT拉低、IGBT误关断的现象。以下是我的局部原理图与PCB图。
在我的使用过程中，将六个IGBT串联以在高电压等级下使用。在六个IGBT承受电压2 kV以下时FLT并不会误拉低；当六个IGBT承受电压达到2.5 kV，即单个IGBT承受电压为四百多伏特时发生FLT的误拉低，此时负载电阻为20 kΩ，负载电流为10 mA数量级。在不发生故障情况下温度正常，几乎较室温没有太大变化。这一问题在多块相同主板上均有出现。
在将六个IGBT串联使用时，这一问题通常首先出现在距高电压测最近的IGBT的开通过程中，该IGBT首先FLT拉低，随后后面几个IGBT的FLT逐个拉低。但当我测量第一个IGBT的FLT时，这一问题会首先从后面的IGBT引发。
黄线为衰减10倍的输出电压、蓝线为第一个IGBT的FLT
