BQ33100: BQ33100应用问题

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ADC 采样率可能为~10–20Hz (电流样本之间的间隔为50-100ms)、请查看数据表进行确认。 BQ33100可能会退出学习状态、并在欠压期间降低 LLEN、响应时间为~1–5ms (硬件驱动估算值)。 0x0041复位会重新初始化器件、清除易失性寄存器、停止活动进程并调整引脚状态(例如 LLEN 为低电平)、但除非另有说明、否则会保留数据闪存。

您好

未记录 LLEN 下拉的特定"欠压值"、但它可能与 POR 阈值(VCCPACK 上为~2.0–2.5V)相关。 在您的情况下、由于 VCCPACK 在断电期间达到此水平、因此由于硬件复位、LLEN 几乎立即(<< 1 ms)变为低电平、从而停止放电。 如果电流在1秒内跨10–20个样本(而不仅仅是来自单个样本)持续(或平均)超过15 mA、则可能会设置 DSG 标志。 请查看放电电流阈值寄存器文档以了解确切的逻辑(例如、瞬时与平均值)。 0x0041复位会清除易失性 RAM 寄存器(例如、CURRENT、DSG、电容)、停止学习(LLEN 为低电平)、并以完好无损的闪存设置重新启动器件。 它暂时中断过容量跟踪、但在重新初始化后保留备份功能。 欠压：在12V 至0V 欠压期间、LLEN 可能会降至~2.2V (POR 阈值)。 DSG 逻辑：持续电流>DSG 超过1秒(10–20个样本)设置15 mA。 复位效果：清除 RAM、暂停学习、对重启后的备份影响最小。

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Chg Current Threshold 确定了 BQ33100在学习阶段何时检测到有效充电、以测量超级电容器容量。

它对于精确的电容计算至关重要。 它可能不会直接影响放电、备用或故障检测、但如果与更宽的固件逻辑连接、它可能会略微影响充电状态或 CHG 引脚行为(不太可能)。