IWR6843: ADC_Buffer测试模式

Pan Haojie

Part Number: IWR6843

你好，

我想通过测试模式来测试ADC_Buffer，配置了TESTPATTERNRX1ICFG、TESTPATTERNRX2ICFG、

TESTPATTERNRX3ICFG等测试数据生成器相关的寄存器后，发现数据不是按我预想的方式存放在SRAM

中。我想知道在测试模式下，测试数据是按照什么方式存放在ADC_Buffer的SRAM中的？

0 Eirwen 3 个月前

已经收到了您的案例，调查需要些时间，感谢您的耐心等待。

0 Eirwen 3 个月前回复 Eirwen

当测试模式启用时，ADC数据不会被存储。该电路作为多路复用器工作：在ADC缓冲器输入端，多路复用器选择测试模式数据而非射频数据。技术参考手册第13.1.3章对此有详细说明。

0 Pan Haojie 3 个月前回复 Eirwen

我知道当测试模式启用时，多路复用器选择测试模式数据而非射频数据。我的问题是当启用测试模式时，测试数据是按照什么方式存放的？这点在技术手册中没有说明。

0 Eirwen 3 个月前回复 Pan Haojie

若通过6个寄存器正确启用，射频测试图案将通过数字逻辑生成，并存储于ADC缓冲区中。

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