IWR6843: ADC_Buffer测试模式

你好，

我想通过测试模式来测试ADC_Buffer，配置了TESTPATTERNRX1ICFG、TESTPATTERNRX2ICFG、

TESTPATTERNRX3ICFG等测试数据生成器相关的寄存器后，发现数据不是按我预想的方式存放在SRAM

中。我想知道在测试模式下，测试数据是按照什么方式存放在ADC_Buffer的SRAM中的？