AWR2243: 多芯片级联校准

? ? 说：

 1. 目前我这边测试中发现Tx通道间相位波动很大，大概波动有几十度。我查看《级联一致性和移相器校准应用手册》，里面3.2章节提到保存客户工厂的RF INIT校准结果。。。请问每个芯片逐一调用

AWR RF INIT CALIBRATION CONF SB 和 AWR RF INIT SB 触发AWR2243进行自校准后，是否多芯片TX通道间的相位波动就已经得到校准？还是说必须执行

AWR CAL DATA SAVE SB 和 AWR_PHASE_SHIFTER_CAL_DATA_SAVE_SB  将数据保存下来后再进行对应的 RESTORE_SB 指令将数据回写到AWR2243才能让其校准生效？

芯片的自校准只能针对本芯片，和其他芯片无法。多芯片的相位校准建议使用外校准。

? ? 说：

 2. 针对RF_INIT中对Tx Phase的自校准，对测试环境是否有要求？是否必须在暗室或环境较为干净的地方进行？

是的。

? ? 说：

3. 进行自校准的时候是否需要架设角反器？

不需要。

? ? 说：

   4. 进行自校准的时候，是否需要将该片AWR2243的Tx和Rx通道都使能呢？因为目前我们板子的方案是部分AWR2243芯片只使能Tx，部分芯片只使能Rx，不清楚这个对于自校准来说是否存在问题

请参考Self-Calibration of mmWave Radar Devices (Rev. C)

Thanks,

Chris

您好，

        问题1~3通过您的回答已得到解决，但问题4提供的文档我这边也详细阅读过，并没有找到在级联情况下，单个芯片的TX相位自校准时是否需要使能该芯片Rx通道的信息，可否帮忙确认？感谢！

        另外做外校准时也想确认校准Tx相位时是否需要使能对应芯片的RX通道，因为目前我们板子的方案是部分AWR2243芯片只使能Tx，部分芯片只使能Rx，不清楚这样的应用对于校准来说是否存在影响