test pattern模式怎么使用，上电之后对芯片进行了复位 给芯片提供采样时钟 ，芯片的DCLK会有输出吗，怎么确定芯片有没有启动，有没有工作。
Original question:
您好，
在扩展控制模式下，需要将寄存器9 Bit 14置1，DCLK才能连续输出；
在非扩展模式下，test pattern不可用，扩展模式和非扩展模式特点对比在数据表Table 4. 如下截图：
在扩展模式下，将寄存器9 bit15置1可以使能Test Pattern输出；Test Pattern输出在数据表43页有说明；
请注意在非扩展模式下，只有 I 通道是可用的；您输入的正弦波是在哪个通道输入的？
您的问题解决了吗？刚看到下面这个问题还没有回复，请从以下方面查找原因：
配置为非扩展模式，时钟芯片的DCLK有输出了，但是采样数据却是一个固定值，我输入的待采样信号为正弦波信号
您是AC耦合输入还是DC输入？请注意，ADC08D1520只能差分输入，且需满足下面共模电压和幅值范围：
