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器件型号： AMC3302
您好：
我们的设计根据应用手册“辐射衰减最佳实践“创建
发射 EMI “（我们使用铁氧体磁珠产生）、已经确定了传导发射的问题。 我们的测量结果会随每次测量而变化。 我们怀疑干扰通过 HGND 和 INN 之间的铁氧体耦合。 TI 是否执行了传导发射测量？ 我们如何解决此问题？
您好、
Marcel
器件型号： AMC3302
您好：
我们的设计根据应用手册“辐射衰减最佳实践“创建
发射 EMI “（我们使用铁氧体磁珠产生）、已经确定了传导发射的问题。 我们的测量结果会随每次测量而变化。 我们怀疑干扰通过 HGND 和 INN 之间的铁氧体耦合。 TI 是否执行了传导发射测量？ 我们如何解决此问题？
您好、
Marcel
早上好、Alexander、
我只能为您提供 Layout、U4、U5、U6 的屏幕截图、这些单元负责当前测量。 如果您需要更详细的布局信息、我可以为您提供该信息。
测量结果表明、分流电阻器上的模拟电压会随着频率的增加而显著波动。 我们没有记录这些测量结果。
尊敬的 Alexander：
是的、我们能够观察到传导发射会影响我们的模拟测量。 通常、我们可以在 HGND 连接到 INN 的情况下进行稳定的模拟测量、但如果我们按照 HGND 到 INN 应用手册中的建议放置铁链、则在传导发射时测量会显示错误结果。
我们使用的是 Würth μ F 74269244182.
在我们的测量期间、一个通道已经处于负载状态。
我们很乐意对布局进行一些改进 — 您会提出什么建议？
