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[参考译文] TDA4AL-Q1在-40°C 下无法启动

Guru**** 2462870 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1447957/tda4al-q1-cannot-boot-up-at--40-degree-c

器件型号:TDA4AL

工具与软件:

尊敬的专家:

我们 在-40°C 下遇到了 TDA4AL 启动问题

启动过程挂起、即使我们尝试重置 PMIC 上电过程、也无法恢复。

除非预热环境、否则启动过程将保持相同的现象。

故障率为 5 DUT/11 DUT = 45%

我们从调试控制台获取的日志如下。

我们的软件团队成员已检查代码并查找相关消息。

请帮助 分析可能导致问题的原因或组件。

谢谢你

Kevin Kuo  

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    尊敬的 Kevin:

    我们的 SoC 工作温度范围是从125°C 到-40°C。 如果你在-40C 以下,我们不能预见可能会发生什么问题。

    除了 SOC 之外、还有 eMMC/MMC、DDR 在-40°C 的温度下也可能不起作用。

    -基尔西

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    Keerthy、您好!

    很抱歉描述错误。

    该问题发生在环境温度-40°C 下、刚好处于温度边界。  

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    正如我所指出的、由于 DDR/eMMC/SD 卡在该温度下无法正常工作、这可能非常好。

    请帮助 分析可能导致问题的原因或组件。

    [报价]

    您是否正在使用 SD/eMMC 进行引导?

    -基尔西

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    尊敬的 Keerthy:

    我们将使用 eMMC 进行引导。

    根据数据表、使用的 DDR 和 eMMC 在-40°C 下均可用;因此、我们需要您的帮助、为我们提供一些关于如何确定这些元件之间的根本原因的建议。

    谢谢你。

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    尊敬的 Kevin:

    eMMC 无法正常运行。 您能否检查以下事项:

    • 故障样本是否在室温下工作?
    • 如果以上情况为"是"、那么您能否检查在什么低温下发现故障?
    • 使用的是哪个 eMMC? 您能否与 eMMC 供应商确认什么是可能的问题?

    -基尔西

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    尊敬的 Keerthy:

    请参考以下答案:

    • 故障样本是否在室温下工作?  有
    • 如果以上情况为"是"、那么您能否检查在什么低温下发现故障?  稍后检查。
    • 使用的是哪个 eMMC? 您能否与 eMMC 供应商确认什么是可能的问题?  我们使用的 eMMC 为 WD/SDINBDG4-8G-ZA2。

    另外、我们可以在 TDA4上试用 DDR 培训工具吗?

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    尊敬的 Kevin:

    下面、我邀请我们的 DDR 专家。

    -基尔西

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    您好!

    此外、我们是否有可以在 TDA4上试用的 DDR 培训工具?

    在 DDRS/LPDDR4初始化期间、训练通过硬件自动进行。 如果我们怀疑解除武装、复员和重返社会、我的第一个建议是:

    • 使用调试器连接到器件、并尝试通过写入值并读回这些值来访问 DDR 存储器区域(例如:0x80000000)
    • 使用降低的 DDR 频率来查看它是否会影响故障  
    • 尝试将 VDD_CORE 增加30mV、看看它是否会影响故障

    此致、
    Kevin

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    尊敬的 Kevin:

    能否向我提供一种在 SPL 中添加 VDD_CORE 的方法?

    此致、

    LUC

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    尊敬的 Kevin:

    您能否提供一种在 SPL 中添加 VDD_CORE 的方法?

    是否有内存测试工具可以帮助我们分析不同温度下的信号质量。 ?

    谢谢你。

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    尊敬的专家:

    我们已尝试 DDR 测试。

    请帮助提供以下各项的说明:

    1.垂直和水平 刻度。

    2.-1错误计数的含义。

    3.眼图的标准是什么?

    另外,我还有3个问题:

    1.在实施 DDR 配置之前是否有任何读取/写入操作?

    2. SoC 是否会在引导期间根据温度变化调整 DDR 初始化?

    3. TDA4是否可以打印 DDR 训练日志? 如何实现?

    有关眼图的清晰视图、请参阅以下内容:

    /cfs-file/__key/communityserver-discussions-components-files/908/DDR_FB96505B3C771657_.rar

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    您好、Keerthy

    这是一个紧急问题、客户、因为此问题涉及待发产品

    您能给我们一些建议吗?

    同时我也在研究这个问题。

    任何更新和相关的主题,我将在这里发布:

    非常感谢

    Gibbs

    相关主题、(持续)

    https://e2e.ti.com/support/processors-group/processors---internal/f/processors---internal-forum/1461031/tda4al-q1-how-to-read-the-meaning-of-ddr-eye-diagram

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    尊敬的 Kevin:

    [报价 userid="617844" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1447957/tda4al-q1-cannot-boot-up-at--40-degree-c/5602110 #5602110"]

    另外,我还有3个问题:

    1.在实施 DDR 配置之前是否有任何读取/写入操作?

    2. SoC 是否会在引导期间根据温度变化调整 DDR 初始化?

    3. TDA4是否可以打印 DDR 训练日志? 如何实现?

    [报价]

    1)我不确定我是否理解这个问题。 如果 LPDDR4存储器未初始化、则无法对其进行读取或写入、并且尝试可能会导致不良行为。 因此、在 DDRSS 初始化之前、不应尝试读取或写入 LPDDR4。  

    2)我不确定我是否完全理解这个问题。 写入 DQ 训练对温度很敏感;因此、需要定期重新训练写入 DQ 延迟、以补偿系统环境中的温度变化。 DDR 寄存器配置工具应从工具版本0.5.0 (或更高版本)开始自动启用定期写入 DQ 训练。  

    3)你可以用下面的二进制转储训练信息。 该二进制文件应通过 CCS 加载到 R5内核中。 将在 CCS"Console"窗口中提供输出。  

    e2e.ti.com/.../tda4x_5F00_lp4_5F00_debug.zip

    此致、
    Kevin

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    尊敬的 Kevin:

    感谢您的答复。

    另外、请帮助提供转储培训信息的指南。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kevin:

    我们已将调试 UART 端口移至 UART9。

    另请考虑这一点。

    谢谢你。

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    大家好、Kevin S

    几个问题、

    (1)"DDR 裕度工具"的二进制文件是否是?  

    (2)根据第1项、如果这不是  DDR 裕量工具、我们可能需要相关指南来指导我们如何使用它。

    (3)他们需要源代码、因为他们已经将他们的"调试打印"移出到接口 UART 9。 您可以将源代码发送给我吗?

    谢谢你。

    Gibbs

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    尊敬的专家:

    是否有任何信息更新?

    此外、我们还有几个问题要问。

    1.根据 DDR 供应商的建议,不同 DDR 和平台的 ODT 参数可能不同。

      您能帮助提供 TDA4AL 的 ODT 参数吗?

      测量要选择的正确 ODT 选项的指南。

    2.如果使用错误的 ODT 参数会发生什么情况?  

    3. DDR 供应商提出的问题是、尽管 DDR 设置中的 tDQSCK 范围可以设置为1.5ns 到3.5ns、

       程序或 SOC 可以接受1.5ns 和3.5ns 的值吗?   

    4.帮助提供有关转储 DDR 培训信息的指导。 结果对于我们调整 DDR 设置可能至关重要。

    谢谢你。

    Kevin Kuo

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    Gibbs, Kevin

    [报价 userid="51195" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1447957/tda4al-q1-cannot-boot-up-at--40-degree-c/5607716 #5607716"]

    3)你可以用下面的二进制转储训练信息。 该二进制文件应通过 CCS 加载到 R5内核中。 将在 CCS"Console"窗口中提供输出。  

    tda4x_lp4_debug.zip

    [报价]

    上述二进制文件不使用 UART。 它使用 CCS"Console"窗口。 换句话说、终端输出通过 JTAG。 您只需使用此二进制文件即可获得 JTAG、Code Composer Studio 以及兼容的仿真器(例如 XDS110)。  

    [报价 userid="51195" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1447957/tda4al-q1-cannot-boot-up-at--40-degree-c/5560219 #5560219"]

    在 DDRS/LPDDR4初始化期间、训练通过硬件自动进行。 如果我们怀疑解除武装、复员和重返社会、我的第一个建议是:

    • 使用调试器连接到器件、并尝试通过写入值并读回这些值来访问 DDR 存储器区域(例如:0x80000000)
    • 使用降低的 DDR 频率来查看它是否会影响故障  
    • 尝试将 VDD_CORE 增加30mV、看看它是否会影响故障
    [报价]

    以上步骤是我建议的后续步骤、我看到的唯一相关的回复是请求帮助修改 VDD_CORE。 很遗憾、如果您不确定如何处理、我必须准备一个补丁文件、而且这需要一些时间。  

    使用降低 DDR 频率应该是一个非常快速和容易的调试步骤、如果您不知道如何更新 u-boot 中的 DDR 配置-更新配置和重新编译 tiboot3.bin 文件不需要超过5到10分钟(不需要重新构建其他文件)。

    同样、使用 JTAG 在故障发生后插入 DDR 内存区域(这比使用降低的 DDR 频率更容易/更快的调试步骤)也是如此。

    此致、
    Kevin

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    尊敬的 Kevin:

    感谢您花时间为我们提供帮助。

    我尝试过使用 CCS 执行电子眼图程序、 我跳过了 UART 初始化、最后一步、我将文件替换为 tda4x_lp4_debug.out . 我尝试在这两者上运行它 MCU_R5 MAIN_R5 、但控制台始终显示以下消息:

    Autorun:目标未运行、因为符号"main"未定义

    您能否为我提供所需的正确步骤或配置顺序、以便我能够成功完成数据转储?

    此致、
    LUC

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    尊敬的 Kevin S.

    当发生故障时、我们曾尝试使用 JTAG 到达 TDA4;但是、XDS110显示无法到达 TDA4。

    此外、让我 解释一下我们为何要关注复员方案。

    1.我们对 DDR 尝试了 ABA 测试方法, 结果发现 NG 现象跟 DDR 器件有关。

    2.我们已经尝试比较了 NG DDR 在不同环境温度下的 DDR 眼图。 尽管  发生问题时 XDS110无法到达 TDA4、但我们仍然得到了 NG DDR 器件在25度和-25度下的眼图、因为它仍然是可引导的。 结果看起来与正常 DDR 截然不同。 正常的 DDR 可以在25度和-40度下获得类似的眼图结果。

    25度:

    -25度:

     

    3.我们试图从同一个 SD 卡的正常和 NG DUT 启动,发现 NG DUT 仍然无法在-40度下启动,这意味着启动设备不会 影响故障现象。  

    根据上述测试结果 、我们得出结论、需要进行与 DDR 相关的进一步验证。

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    您好!

    自动运行:未定义符号"main"时目标未运行

    通过 CCS 加载二进制文件时、编译器经常会尝试"自动运行"二进制文件并在"main"函数处停止。

    在这种情况下、CCS 无法找到符号"main"、因此不会执行任何代码、并会在代码入口点停止。 这不是问题。

    您只需按下"Resume"按钮、代码就会执行。 或者、您可以从下拉菜单中选择"Run"->"Resume"。  

    此致、
    Kevin

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    您好!

    虽然 XDS110 在 问题发生时无法到达 TDA4、但我们仍然得到了低于25度和-25度的 NG DDR 设备的眼图、因为它仍然是可引导的。

    25度温度下的图看起来完全损坏、这意味着对 DDR 的读取/写入无法正常运行。 当您说"因为它仍然可引导"(-25度)时、您的 NG 板在-25°C (从 DDR 执行软件)下工作正常吗?

    如果在25°C 下引导、然后缓慢降低温度、会出现什么情况?  

    您是否能够使用较慢的 DDR 频率进行测试、以查看问题是否消除?  

    此致、
    Kevin

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    尊敬的 Kevin S.:

    是的、NG 板在-25°C 下工作正常
    您是说我们可以尝试通过该过程捕获眼图、在25°C 下启动并缓慢降低温度吗?  
    我们将尽力为您提供反馈。

    我们曾尝试降低 DDR 频率、但这会直接导致 DUT 不可引导。
    除了频率、大家可以帮助说明还应该调整哪些参数吗?

    谢谢你。

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    您好!

    是的、NG 板在-25°C 下工作正常。

    如果电路板运行正常(从 DDR 运行的软件应用程序)、则表示 DDR 工作正常。  我不知道为什么眼图显示为全红色(仅在-25°C 时)、但如果电路板正常运行、则肯定还有其他因素(除温度外)导致该行为。

    我们已尝试降低 DDR 频率、但它直接导致 DUT 无法引导。
    除了频率之外、您能否帮助建议还应调整哪些参数?

    您是否重新生成了寄存器设置? 无论何时更改 DDR 频率、都需要使用 DDR 寄存器配置工具、并重新生成新的 DDR 寄存器设置。  

    您尝试的频率是多少? 错误是什么? 是否在室温下启动?  

    此致、
    Kevin

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    尊敬的 Kevin:

    我们在室温下对以下5种 DDR 设置执行 DDR 转储训练信息程序、并记录日志。

    1. DDR 配置工具0.10 +定制 DDR  时序设置+定制 ODT 设置

    2.  DDR 配置工具0.10 +自定义 DDR 时序设置+默认 ODT 设置、仅更改以启用 CK ODT 覆盖

    3. DDR 配置工具0.11 +自定义 DDR 时序设置+默认 ODT 设置

    4. DDR 配置工具0.11 +定制 DDR 时序设置+定制 ODT 设置

    5. DDR 配置工具0.11 +自定义 DDR 时序设置+默认 ODT 设置、仅更改以启用 CK ODT 覆盖


    e2e.ti.com/.../20250203_5F00_DDR-Log.zip

    您能否告诉我我们可以使用哪个版本、或者是否需要进一步调整?

    谢谢你。

    LUC

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    您好!

    从日志文件的快速抽查可以看出、在不同的设置下、训练的值似乎没有太大的差异。

    此致、
    Kevin

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    尊敬的 Kevin S:

    [报价 userid="51195" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1447957/tda4al-q1-cannot-boot-up-at--40-degree-c/5638703 #5638703"]

    从日志文件的快速抽查可以看出、在不同的设置下、训练的值似乎没有太大的差异。

    [报价]

    我们是否应该在-25°C 下进行试验并比较结果?  结果是否受温度影响?

    您能帮助我们快速解释一下日志吗?

    谢谢你。

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    尊敬的 Kevin S:

    我们已在-40°C 下执行了 DDR 转储培训信息计划

    结果看起来不同。 请帮助快速浏览。  

    谢谢你。

    e2e.ti.com/.../BWLGYA004GN6ZC_5F00_20250122_5F00_ODT_5F00_DEF_5F00_ENA_5F00_CKODT_5F002D00_40_5F00_degree.zip

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    大家好、  和 Luc

    我需要澄清一些东西。

    问题1:  

    我假设这5个(参数)实验可在正常温度下工作、对吧?

    1. DDR config tool 0.10 + custom ddr timing setting + custom ODT setting
    
    2. DDR config tool 0.10 + custom ddr timing setting + default ODT settings, only change to enable CK ODT Override
    
    3. DDR config tool 0.11 + custom ddr timing setting + default ODT setting
    
    4. DDR config tool 0.11 + custom ddr timing setting + custom ODT setting
    
    5. DDR config tool 0.11 + custom ddr timing setting + default ODT settings, only change to enable CK ODT Override

    问题2:  

    取决于您对此文件的最新发布"BWLGYA004GN6ZC_20250122_ODT_DEF_ENA_CKODT_-40_Dege.zip"

    根据"问题1"和5个测试项、此实验的设置参数是什么?

    DDR 是否工作?

     

    谢谢

    Gibbs

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    亲爱的吉布斯:

    请参阅以下答复。

    [报价 userid="533255" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1447957/tda4al-q1-cannot-boot-up-at--40-degree-c/5642126 #5642126"]

    我假设这5个(参数)实验可在正常温度下工作、对吧?

    [报价]

    有。  

    [报价 userid="533255" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1447957/tda4al-q1-cannot-boot-up-at--40-degree-c/5642126 #5642126"]

    根据"问题1"和5个测试项、此实验的设置参数是什么?

    DDR 是否工作?

    [报价]

    该实验的设置为"DDR 配置工具0.11 +自定义 DDR 时序设置+默认 ODT 设置、仅更改以启用 CK ODT 覆盖"、DDR 不起作用。

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    尊敬的 Kevin S.和 Gibbs:

    在-40°C 下检查上述所有设置后

    我们发现设置"DDR config tool 0.10 +自定义 DDR 时序设置+默认 ODT 设置、仅更改以启用 CK ODT Override "可以在-40°C 下通过 NG DDR 正常启动。

    您能解释一下原因、并就此配置下会受影响的方面向我们提供一些建议吗? 是否会有任何风险?  是否应调整其他参数以获得更好的结果?

    DDR 配置设置、-40度下的 DDR 训练转储信息和-40度下的眼图如下所示:

    e2e.ti.com/.../ddr-v3.rar

    如果需要更多信息或实验进行分析、请告知我们。

    谢谢你。

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    尊敬的 Kevin S.和 Gibbs:

    是否有任何关于该问题的更新?

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    尊敬的 Kevin:

    我从 Gibbs 的理解是、当您将 CK ODT Override 设置为"disable"(以及其他更改)时、问题就会消失。 这是正确的理解吗? 我们还在 TI EVM 上将 CK ODT 覆盖设置为"禁用"。 据我所知、当您在每个等级上有单独的时钟时、便会使用此特性、而 TDA4x 设计中没有这种特性。

    可以在 TDA4AL 上使用 v0.10.0。  

    此致、
    Kevin

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kevin S.:

    请让我为您总结一下实验结果:

    1. DDR 配置工具0.10 +自定义 DDR 时序设置+自定义 ODT 设置(失败)

    2. DDR 配置工具0.10 +自定义 DDR 时序设置+默认 ODT 设置、仅更改以启用 CK ODT 覆盖(通过)

    3.  DDR 配置工具0.10 +定制 DDR 时序设置+默认 ODT 设置 (通过)

    4. DDR 配置工具0.11 +自定义 DDR 时序设置+默认 ODT 设置 (失败)

    5. DDR 配置工具0.11 +自定义 DDR 时序设置+自定义 ODT 设置 (失败)

    6. DDR 配置工具0.11 +自定义 DDR 时序设置+默认 ODT 设置、仅更改以启用 CK ODT 覆盖 (失败)

    如您所见、CK ODT 不是主要原因、但 DDR 配置除外。 工具版本和 ODT 设置;因此、我们想知道  

    1. v0.10.0与 v0.11.0有何区别? 如果不更新配置将会产生什么影响。 工具版本?

    2.由于 ODT 设置确实对 DDR 有一定影响,我们提供的培训转储信息和眼图对 ODT 设置是否有任何改进? 我们希望知道可以确保 DUT 稳定性的正确设置。

    请协助回答上述问题。

    谢谢你。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    大家好、Kevin Kuo

    我已经在邮件循环中回复。

    Gibbs

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    尊敬的 Kevin S.和 Gibbs:

    感谢您的答复。

    我们仍有一个问题需要解决。

    由于该问题看起来与 DDR 设置直接相关、为什么日志显示不同的结果并错误地导致我们连接到 eMMC 器件?