请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：TAS2563工具/软件：
您好：
我正在使用 TAS2563、目前正在尝试设计生产测试序列。 阅读完终端系统集成指南 (slaa954) 后、我们想到使用 ROM 模式运行校准（析因测试程序）。 由于测量参数显示错误的值、这会导致出现故障：
TAS2563 校准值：
Deva Re =–0.00 欧姆
Deva F0 = 1893.05
Deva Q =–0.00
Deva Rms_pow = 0x00000000
DEVA t_LIMIT = 0x2EE00000
SPK A 校准失败：Re 太低（限制：2.00）。
SPK A 校准失败：F0 太高（限制：4500.00）。
Factorytest 然而,工作正常与调谐模式。 我的问题是：
1.智能放大器在 ROM 模式下运行时,预计析因测试不起作用吗?
2.运行 factorytest 时,建议使用哪种模式? 是调谐模式吗？ 我们是否需要创建一个特殊的快照、使除特性描述之外的所有调谐（EQ、DRC 等）都处于关闭状态？
3.何时使用 ROM 模式有益?
