工具/软件:
您好:
我正在使用 TAS2563、目前正在尝试设计生产测试序列。 阅读完终端系统集成指南 (slaa954) 后、我们想到使用 ROM 模式运行校准(析因测试程序)。 由于测量参数显示错误的值、这会导致出现故障:
TAS2563 校准值:
Deva Re =–0.00 欧姆
Deva F0 = 1893.05
Deva Q =–0.00
Deva Rms_pow = 0x00000000
DEVA t_LIMIT = 0x2EE00000
SPK A 校准失败:Re 太低(限制:2.00)。
SPK A 校准失败:F0 太高(限制:4500.00)。
Factorytest 然而,工作正常与调谐模式。 我的问题是:
1.智能放大器在 ROM 模式下运行时,预计析因测试不起作用吗?
2.运行 factorytest 时,建议使用哪种模式? 是调谐模式吗? 我们是否需要创建一个特殊的快照、使除特性描述之外的所有调谐(EQ、DRC 等)都处于关闭状态?
3.何时使用 ROM 模式有益?