工具/软件:
您好!
在应用手册 CC13xx、CC26xx 和 CC23xx 系列无线 MCU 的晶体振荡器和晶体选型(修订版 L)中
R 与 C load 之间 的关系为倒数平方、如公式(7)所示。
但客户询问了晶体供应商、他们显示如下曲线。 也许公式7与曲线的一部分相一致、忽略其他一些系数。
您能分享的内容超过这个方程的曲线吗? TI 的截止频率是多少?
BR。 Albin
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工具/软件:
您好!
在应用手册 CC13xx、CC26xx 和 CC23xx 系列无线 MCU 的晶体振荡器和晶体选型(修订版 L)中
R 与 C load 之间 的关系为倒数平方、如公式(7)所示。
但客户询问了晶体供应商、他们显示如下曲线。 也许公式7与曲线的一部分相一致、忽略其他一些系数。
您能分享的内容超过这个方程的曲线吗? TI 的截止频率是多少?
BR。 Albin
尊敬的 国庆:
数据表指出最小负载电容为6 pF。 这是指包括寄生效应在内的总负载电容。 电路板上的总负载电容可能小于6 pF。 总电容的计算公式为(C1 x XC2)/(C1 + C2)+ Cparasitic、其中 C1和 C2是两个晶体负载电容器。
为什么要尝试使用不同的负载电容器进行测试? 您应使用失调电压最小的负载电容。 有关如何调优32kHz 晶体的信息、请参阅 CC13xx/CC26xx 硬件配置和 PCB 设计注意事项中的第6.3节。
您还能分享一下您正在使用的晶体吗? 晶体预期的负载电容是多少?
此致、
Hg
我们遇到了三个问题。
1、在 PV 实验中、有4种情况 CC2642报告了 CLK 丢失故障。 观察到一个48M 晶体停止振荡。 附件是晶体制造商提供的 FA 分析报告。 e2e.ti.com/.../SEAM3225-48M10PF_2D00_A120_0D4E6F8206529067A5624A54_25.4.22.xls
2、A 样本、32.768K 晶体振荡器的匹配电容器为8.2pf。 C sample、8.2pf 电容器 不能使32.768K 振荡器启动、μ s 在使用12pf 时、晶体可以开始振荡。 附件是 晶体数据表并 匹配报告 e2e.ti.com/.../TROQ_2D00_ARNE32768023_2D00_2X.pdfe2e.ti.com/.../TXC_2D00_AH03200011.pdfe2e.ti.com/.../Match-report_2D00_AH03200011_2D00_A202501158.pdf
3、CC2642引脚和 PCB 之间的寄生电容值是多少?
上一次答复未完成。 请参阅这一个。
1、在 PV 实验中、有4种情况 CC2642报告了 CLK 丢失故障。 观察到一个48M 晶体停止振荡。 附件是晶体制造商提供的 FA 分析报告。 SEAM3225 48M10PF- A120不良分析报告25.4 22.xls e2e.ti.com/.../_475754807A664C88BF7EEF8D7F674B6DD58BA5624A545F00_TROQ-_2D00_-25.1.10.pdfe2e.ti.com/.../ARL48000357_2D00_2X.pdfe2e.ti.com/.../ARNE32768023_2D00_2X.pdf
2、A 样本、32.768K 晶体振荡器的匹配电容器为8.2pf。 C sample、8.2pf 电容器 不能使32.768K 振荡器启动、μ s 在使用12pf 时、晶体可以开始振荡。 附件是 晶体数据表并 匹配报告 e2e.ti.com/.../0741.Match-report_2D00_AH03200011_2D00_A202501158.pdfe2e.ti.com/.../3465.TXC_2D00_AH03200011.pdf
3、 CC2642引脚和 PCB 之间寄生电容的估算值是多少?
4、如果 HCI_EXT_SetSCACmd (500)、将睡眠时钟容差设置为40ppm、高温条件下的显著频率偏差是否会导致 CLK 丢失?
尊敬的 Zhegan:
晶体布线的寄生电容取决于设计。 通过使布线更长、 寄生电容会增加。 您是否尝试过将 LF 时钟路由到 GPIO 并测量频率是多少? 您能否输出 LF 时钟并使用频率计数器测量频率? 然后、增大和减小负载电容、直到您恰好或非常接近32.768kHz? 否则、您可以找出总负载电容和杂散电容。
使用 HCI_EXT_SetSCACmd (500)不会影响 CLK 丢失。 仅当 IC 无法检测到时钟信号时才会发生时钟丢失。
此致、
Hg