[参考译文] CC2650EM-4XS-RD：IAR Embedded Workbench 7.70

是的、也尝试过 cjtag、4 wiire 和 jlink

您好、annamol Alex、

您可以尝试降低 JTAG 速度。 并在常规选项中检查您的器件

您好！

到目前为止、我已经尝试了以下操作、我的假设是电路板中 CC2650的4线制 JTAG 模式有问题。 如果我错了、请纠正我的问题。

我的设置有一个5x2接头、此接头具有 JTAG_TMS、TCK、TDI、TDO、CC_RESET、VDD 和 GND。 使用的调试器包括 Segger Jlink、来自 Smart RF06EVB 的 TI XDS 100v3 USB 和 IDE 是 IAR。  为了确认硬件和调试器是否正常工作、我使用的是带 XDS 的 Smart RF 闪存编程器。

到目前为止已完成的步骤

• 带 XDS 调试器的2线 CJTAG 模式
  • 在 IAR 中、在 TI XDS 下、我选择了2线 CJTAG
  • 在这种模式下、有时会下载代码、有时我会收到错误、引导加载程序1后无法停止
  • 如果我遇到此错误、我打开 Smart RF 闪存编程器、并尝试使用 cJTAG 从那里转储堆栈代码、这种方法通常起作用
  • 然后、如果我返回 IAR 和闪存、代码会转储
• 带有 XDS 调试器的4线 CJTAG 模式
  
  • 在 IAR 中的 TI XDS 下、我选择4线 JTAG
  • 在此模式下、代码永远不会转储到 IAR 中
  • 为了验证4线制 JTAG 是否在 Smart RF 闪存编程器中工作，我从“工具”->“设置”->“使用2引脚 cJTAG”中取消选中了2线制 CJTAG。 这也失败了
• 使用 Segger Jlink、
  
  • 将调试更改为 Jlink/J 跟踪
  • 此模式使用4线制 JTAG、在 IAR 中不起作用。

  有什么关于为什么"引导加载程序1出现后无法停止"的想法？ 请告诉我。 我甚至尝试在4线制模式下将复位线路拉至接地。

  为了使 JTAG 以稳定的方式工作、需要执行的任何特定操作都将有所帮助

请尝试参阅 processors.wiki.ti.com/.../CC26xx_HW_Troubleshooting

您好！

我的硬件工作正常、因为它在智能射频闪存编程器中被检测到(已按照硬件故障排除指南中提到的步骤操作)、我可以从智能射频和 IAR 转储代码。 但我的问题是 设置不稳定。 如果有人能够澄清以下几点、那将会是很好的

• Smart RF 闪存编程器使用 cJTAG、在哪里可以找到调试器设置？
• 在 IAR 中、我尝试将 JTAG 速度从默认值更改为较低的值、它给我一个错误消息、说 JTAG 时钟死(也尝试过自适应模式、运气不佳)
• 在 IAR 中、我还尝试将 CPU 时钟速度从默认的72.0MHz 降低到48.0MHZ、没有改变。

调试时的不稳定是因为 IAR 中的设置不正确或硬件有问题。 我担心的是、它在 Smart RF 闪存编程器中被检测到、在 IAR 中转储代码时失败。

您是否使用长 JTAG 电缆？

你好、annamol Alex

CC2650 Smart RF06 EVB

[引用用户="annamol Alex ]

• Smart RF 闪存编程器使用 cJTAG、在哪里可以找到调试器设置？

[/报价]

Smart RF 闪存编程器2可以自动检测调试器的类型。   调试器设置取决于您的调试器。  
您可以在 processors.wiki.ti.com/index.php 上参考

示例： CC2650 Smart RF06 EVB 是 TI XDS - JTAG - 4引脚

[引用用户="annamol Alex ]

• 在 IAR 中、我尝试将 JTAG 速度从默认值更改为较低的值、它给我一个错误消息、说 JTAG 时钟死(也尝试过自适应模式、运气不佳)

[/报价]
很难确切地知道。 您可以提供更多详细信息。 您的调试器？ 您的器件是定制 PCB 还是开发套件？

[引用用户="annamol Alex ]

• 在 IAR 中、我还尝试将 CPU 时钟速度从默认的72.0MHz 降低到48.0MHZ、没有改变。

[/报价]

是的。 CPU 不影响下载固件  

您好！

很抱歉不清楚。 我将定制 PCB 与 CC2650 smartRF06EVB 搭配使用、并提供定制搭接(TCK、TMS、VDD 和 GND)。 在智能射频闪存编程器中、我知道它是 cJTAG、但我对 JTAG 速度感兴趣、想知道我是否给出了设置、IAR 中将发生任何更改。

您好！

即使我具有相同的设置。 现在、我正在尝试从默认值降低 JTAG 速度、以查看它是否会产生影响。 但到目前为止没有变化。

您能给我们看一下您的调试器与 CC2650定制板之间的连接吗？

您好！

现在、我已经在 CC2650复位线路上连接了一个100k 电阻器和100nF 电容器、以检查这是否会发生任何变化。 我使用智能 RF06 EVB 作为调试器。

SmartRF06和定制 CC2650PCB 之间的 PCB 用途是什么？ 如果您在没有该 PCB 的情况下直接在 SmartRF06和定制 CC2650PCB 之间连接调试引脚、它是否更好？

您好、annamol Alex、

您可以放大 TMS、TCK。 这似乎是不正确的。 TCK 是左侧的第6个引脚。

您好！

我有一个编程接头、通过柔性 PCB 从该编程接头取出调试线到该小型调试板。 它有2个 JTAG 接口、一个用于 CC2650、另一个用于 K65。 K65 JTAG 接头工作正常、没有任何问题。 但通过 JTAG 对 CC2650进行编程并不可靠。 很难将导线直接焊接到定制 PCB 上。 将在该模式下尝试更新您。

您好！

已验证接线是否正常。

您好！

毫无疑问、我在 CCS 中尝试了 JTAG 测试连接、并得到了以下报告。 这是否意味着不存在 JTAG 连接问题？

[开始：德州仪器 XDS100v3 USB 调试探针_0]

执行以下命令：

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]


---- [打印电路板配置路径名]---------------

C：\Users\htic\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
TI_One\0\BrdDat\testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusbv3.dll'。
库构建日期为"2017年2月13日"。
库构建时间为'16：06：25'。
库软件包版本为'6.0.576.0'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

测试尺寸坐标 MHz 标志结果 说明
~~~~~~~~~~~~~~~μ A ~~~~~~~~μ A ~~~~~~~~~~~~~~~μ A ~~~~~~~~~~~~~~~~~~~μ A
1 64 - 01 00 500.0kHz O 良好值测量路径长度
2. 64 + 01 20 3.000MHz [O]良好值应用显式 tclk

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

在扫描路径测试中：
测试长度为2048位。
JTAG IR 长度为14位。
JTAG DR 长度为3位。

IR/DR 扫描路径测试使用2个频率。
IR/DR 扫描路径测试使用500.0kHz 作为初始频率。
IR/DR 扫描路径测试使用3.000MHz 作为最高频率。
IR/DR 扫描路径测试使用3.000MHz 作为最终频率。

---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR 指令路径长度测试成功。
JTAG IR 指令路径长度为14位。

JTAG DR 旁路路径长度测试成功。
JTAG DR 旁路路径长度为3位。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG IR 完整性扫描测试成功。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG DR 完整性扫描测试成功。

[结束：德州仪器 XDS100v3 USB 调试探针_0]

最好知道将调试器引脚直接连接到您的 CC2650定制板是否工作正常。