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[参考译文] TMS320F28388D:TMS320F28388D:CM 中不可纠正的错误导致的 NMI

Guru**** 2465890 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1478391/tms320f28388d-tms320f28388d-nmi-by-uncorrectable-error-in-cm

器件型号:TMS320F28388D

工具与软件:

你好 Ibukun

我再回到 CM 中的 ECC 错误问题、本主题中已经介绍了该问题:

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1388329/tms320f28388d-nmi-by-uncorrectable-error-in-cm

ECC 错误出现问题已有一段时间。 但是、电流构建会再次发生、这是一个非常大的问题。

如果闪存 ECC 错误发生并且寄存器中有一个地址 CM_FLASH_ECC_REGS UNC_ERR_ADDR_LOW 或 UNC_ERR_ADDR_HIGH 指向 cram 的引脚、我们现在忽略该错误。 然后不再触发复位、但系统会跳回、固件继续运行。

现在、您要问的问题是该假设是否正确:如果发生闪存 ECC 错误并且其中一个 CM_FLASH_ECC_REGS UNC_ERR_ADDR_LOW 或 UNC_ERR_ADDR_HIGH 寄存器包含一个指向 cram 的值、可以忽略 ECC 错误。

这个问题对我们来说并不是唯一的问题。 其他论坛条目也对此进行了介绍。 我们现在迫切需要一个解决办法。  

此致

Simon

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    对我们来说,在幸运的构建之后,没有产生任何问题,我们构建了一个新的版本,更改了几行来纠正错误。 此校正不会影响内存、并且非常小。 无论如何问题回来和随机我们遇到 FLUNCHR 上 NMI . 有很多关于 TI 的建议、但不是确定的根本原因和解决方案。  

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    您好、Yaroslav

    目前、如果根据 TI 的建议注释掉了以下行代码、那么我将不再存在 ECC 错误:
    // Flash_enableProgramCache (ctrlBase);
    这将停用预取、代码处理变得稍慢一些。 同时、我会再次将 DEVICE_FLASH_WATSTATES 从4复位回2。

    也许这也有助于你的情况。

    此致 Simon

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    大家好、我们的设计团队正在调查此问题、以尝试了解根本原因。 您可以提供的任何能够可靠地重现错误的示例测试案例都将大有帮助!

    谢谢!
    Ibukun