工具/软件:
TI 工程师大家好:
再次感谢您的支持。 我会检查 MCU 对内部故障(存储器/时钟/adc/processing/v.v) 的反应、以便与我们的系统行为保持一致。 请注意、如果您可以提供 MCU 的测试/验证结果 — TMS320F28P659SH-Q1、它会非常有用。
非常感谢。
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再次感谢您的支持。 我会检查 MCU 对内部故障(存储器/时钟/adc/processing/v.v) 的反应、以便与我们的系统行为保持一致。 请注意、如果您可以提供 MCU 的测试/验证结果 — TMS320F28P659SH-Q1、它会非常有用。
非常感谢。
尊敬的 BU 团队:
我是当地支持 Tuyen 的 FAE。 如果有任何文件共享、可以发送到我的电子邮件 khoi.le@ti.com。
谢谢
尊敬的 Tuyen/Khoi:
您是否专门为 TMS320F28P659H-Q1 寻找 FMEDA? 如果是、您可以申请安全访问此链接: https://www.ti.com/drr/opn/C2000-SAFETI-AUTOMOTIVE-INDUSTRIAL-PACKAGE
此致、
Joseph
你好、Tuyen、
好的、抱歉我基于主题标题假设它是 FMEDA。 我认为最接近的测试报告是在器件开发早期执行的硅片验证。 让我联系 Khoi 并分享一个电子表格、该电子表格将转发给您。 如果您的公司与 TI 签订了 NDA 协议、那么应该可以与您共享此报告。 如果您所用的测试用例条件在电子表格中没有任何测试等效性、请告诉我并检查我们的 SDK 示例中是否已经介绍了这一点。
此致、
Joseph