Other Parts Discussed in Thread: TIEVM-MTR-HVINV, XDS110ISO-EVM
器件型号: XDS110ISO-EVM
主题中讨论的其他器件:TIEVM-MTR-HVINV 、 C2000WARE
尊敬的团队:
我最近购买了 TIEVM-MTR-HVINV 评估模块 以及中 XDS110ISO-EVM 调试器 。 遗憾的是、我无法在调试器和评估模块之间建立调试连接。
我已经尝试了所有标准的故障排除步骤、包括检查电缆、电源、目标配置和固件、 但问题仍然存在。 我请求您的支持以确定根本原因。
仅当我使用时 “测试连接“ 在 CCS 中、连接失败并出现以下错误:
错误:SC_ERR_PATH_BROKEN(–233)
JTAG IR 和 DR 扫描路径无法循环位、它们可能会损坏。
尝试扫描 JTAG 扫描路径失败。
目标的 JTAG 扫描路径似乎已断开、出现卡滞在 1 或零故障。
如所示 XDS110SupportReadMe.pdf 、固件和配置似乎正确。 的输出xdsdfu已连接。 
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附加目标配置 (.ccxml) 以供参考
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固件更新/DFU 检查成功完成
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USB 检测和 XDS110 枚举功能正常
