Other Parts Discussed in Thread: TIEVM-MTR-HVINV, XDS110ISO-EVM
部件号:TIEVM-MTR-HVINV
Thread 中讨论的其他器件: XDS110ISO-EVM、 C2000WARE
您好 TI 支持团队:
我最近购买了 TIEVM-MTR-HVINV 评估模块、我目前也在 无法建立任何调试/JTAG 连接 导致 EVM 无法进行评估。
问题摘要
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EVM: TIEVM-MTR-HVINV (最近购买)
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调试探针: XDS110ISO-EVM
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MCU: C2000(HVINV 上的 F280013x 系列)
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工具: Code Composer Studio (CCS)
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观察到的错误:
SC_ERR_PATH_BROKEN (-233)测试连接和目标连接期间
我已经试过了
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验证 PC 是否检测到 XDS110ISO
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使用更新 XDS 固件
xdsdfu -
尝试了多种 JTAG 时钟速度 (1MHz、200kHz、100kHz)
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已检查电缆方向和连接
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已验证电路板电源是否存在
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重新创建
.ccxml并使用了默认 TI 配置 -
已在另一个 USB 端口/系统上尝试
尽管存在上述情况、CCS 始终无法与目标连接 SC_ERR_PATH_BROKEN(–233) 。
问题
因为这块电路板不同 最近购买 并且在基本调试连接阶段失败、我担心是否:
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有一个 已知设置要求/跳线配置 或
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a. 硬件问题 提供 EVM 或调试接口。
现在、我无法使用 TIEVM-MTR-HVINV 进行评估或开发。
公钥
请协助:
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确认 正确的 JTAG/cJTAG 配置 TIEVM-MTR-HVINV 模块
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不限 强制跳线或电源序列要求
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有关诊断是否可能是的指导 电路板有缺陷
如果需要、可共享测试连接日志和 CCS 配置文件。
期待您的支持。
此致、
Satheesh Ramasamy

