请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号: F29H85X-EVM-EVM SOM
您好、
在 F29H85X 中、
- 在将器件从 KP 转换为 SE 时、我们首先使用 Seccfg 的 CP、我们从 SDK 本身中提供的给定 seccfg.out 生成 Seccfg.bin。 刷写时、Seccfg 内容将存储在组 0 中- SECCFG 的非活动扇区 C29 闪存及其证书将存储在 HSM 闪存的 CERT0 中。 启动时、系统将成功加载并运行该程序。
当 SECCFG 内容更新时、我将写入 BANK1 SECCFG 的非活动扇区 并向 HSM 闪存中的 Cert1 区域证书、在启动期间、这将是由器件本身处理的活动 SECCFG 扇区。
如果再次更新、我将再次执行步骤 1、我需要擦除 CERt0 区域以存储证书、我们是否可以执行此操作? 我的假设是否正确?
如果 SECCFG 区域处于休眠状态、在 CP 期间刷写了该区域、我们能否擦除该扇区? - 在 SDK 中、默认提供 seccfg.out 文件、我们如何为不同的 SSU 设置创建自己的 seccfg.bin 文件? 还是使用提供的.out 文件?
谢谢。此致